2012年3月16日，北京——作為全球ICP-MS的最大供應商，安捷倫科技一直引領ICP-MS的技術和應用創新，致力于為原子光譜領域提供最先進的技術與最前沿的應用。近期，安捷倫科技推出了最新研發碩果——安捷倫電感耦合等離子體串聯質譜儀ICP-MS/MS(俗稱ICP-QQQ），這是全球首款ICP-MS/MS。為使業內專家第一時間了解安捷倫ICP-MS/MS創新技術，并深入認識ICP-MS的最新發展與應用，安捷倫科技于3月16日上午在盤古七星酒店舉辦了“安捷倫電感耦合等離子體串聯質譜儀新技術與應用VIP研討會”。會議邀請到鋼鐵研究總院王海舟院士，國家食品安全風險評估中心首席專家吳永寧教授，國家環境分析測試中心黃業茹教授，北京光譜協會理事長鄭國經教授，廈門大學弓振斌教授，武漢大學胡斌教授，西北大學袁洪林教授等多位國內ICP-MS領域的知名資深專家。安捷倫科技生命科學與化學分析事業部大中華區市場經理張偉基先生、化學分析市場經理何峻先生、材料測試與光譜市場經理陳玉紅博士、安捷倫科技ICP-MS全球產品經理NaokiSugiyama先生，安捷倫科技中國原子光譜產品經理陳登云博士等出席了該會議。

　　近年，來自半導體、材料、生物、醫學、環境、食品等多個領域對痕量元素及其化合物分析的需求不斷提高，樣品種類也從簡單基體拓展到極為復雜的樣品基體。痕量分析面臨了各種復雜基質所帶來的各種質譜干擾。安捷倫8800ICP-MS/MS的推出代表了ICP-MS儀器的變革，為高端研究和解決復雜的分析難題帶來了前所未有的靈活性。

　　安捷倫8800電感耦合等離子體串聯質譜儀（ICP-MS/MS）的性能優于單四極桿ICP-MS，具有可控且持續的干擾消除能力，可以有效解決復雜基質中的超痕量元素所受的質譜干擾難題。安捷倫8800ICP-MS/MS不僅具備ORS3氦碰撞動能歧視消干擾的性能，其MS/MS功能還能精確控制進入碰撞/反應池的離子，有效解決了原先傳統反應池在使用反應性氣體測定復雜基體時因共存基體或元素易形成新的干擾離子或共存離子導致用mass-shift法難以獲得準確的痕量定量結果等難點。即使樣品組成有所不同，也能保持一致、可預見的反應條件。該款新儀器在一系列的新型反應模式中提供一鍵式運行，能始終有效地消除復雜樣品中未知元素對超痕量目標元素的干擾。同時，安捷倫8800還能像單四極桿ICP-MS一樣運行，確保復制現有方法和類似方法的安全性，具有極高的靈活分析能力。其大部分關鍵部件、耗材，如錐、霧化器等皆可與安捷倫7700ICP-MS系列共享。

　　8800-MS/MS極適合于眾多復雜樣品基質中的超痕量元素的準確分析，大大提高了半導體、材料、臨床與生命科學以及科研等領域的檢測性能。包括：

　　1.對復雜基質中易受多原子離子、雙電荷離子、同質異位素干擾以及受相鄰基體元素同位素拖尾影響的超痕量元素進行分析。

　　2.在生命科學應用中定量分析DNA/核苷酸和蛋白/多肽中的硫磷元素并與色譜聯用分析其化合物等。

　　該研討會還通過網絡直播形式，與60余位未能親臨現場的安捷倫ICP-MS用戶線上共同分享并探討了ICP-MS/MS質譜儀所帶來的技術研發與創新。