新聞發(fā)布——2011年8月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）擴展其PXI平臺的功能，通過新發(fā)布的每個引腳參數測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊（SMU）用于半導體的特性描述和生產測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設備成本，縮短測試時間，并提升各種測試設備的混合信號靈活性。
使用NI PXIe-6556高速數字I / O模塊，工程師可以產生和獲得一個高達200 MHz的數字波形或在同一針腳上，以 1% 誤差率執(zhí)行 DC 參數測量，從而簡化布線，減少測試時間和提高直流參數測試儀的測量密度。此外，其內置的時序校準功能可自動調整時序，幫助工程師們消除不同連線與線路長度所造成的時序偏移，。NI PXIe-6556可選擇是否以其他精度更高的NI SMU切換，工程師可基于硬件或軟件觸發(fā)器，進而觸發(fā)參數測量。
NI PXIe-4140/41 SMU模塊可用于PXI Express插槽，提供多達4個SMU的通道，而4U的單一PXI機箱可提供多達68個SMU的通道,以輕松應對高針數設備的測試。高達每秒600,000樣本的采樣率，工程師們可以大大減少測量時間，或獲取設備重要的瞬態(tài)特性。此外，NI PXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術，工程師們可根據任何給定的負載自定義調整SMU輸出，以實現最大的穩(wěn)定性和最小的瞬態(tài)倍。傳統SMU技術無法提供此功能。
結合使用NI LabVIEW系統設計軟件，這些新PPMU和SMU模塊為半導體測試提供了模塊化的軟件定義測量方式，從而提高質量，降低成本并減少整個測試驗證，特性研究和生產的時間。 LabVIEW具有靈活性編程語言與先進的工程工具的力量，使工程師能夠滿足特定、定制化的要求。
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