2011年4月——NI近日發布了《2011自動化測試技術展望》,就影響測試測量的技術與方法發表了研究結果。該報告所闡述的發展趨勢覆蓋了消費電子、汽車、半導體、航空航天、醫療設備和通信等眾多產業,幫助工程師和企業管理人員利用最新策略和最佳實踐案例,優化測試組織架構。
《2011自動化測試技術展望》以學術和工業研究、網上論壇、問卷調查、商業咨詢、客戶反饋等多種形式廣泛進行調查,提出了下一代測試測量行業的發展趨勢,以應對該行業所存在的商業與技術挑戰。報告從四個方面進行了闡述:
-- 組織機構優化:集成驗證與生產測試需要注意策略、流程、人力與技術上的改變。
-- 軟件系統:一個高度集成的軟件框架提供了一個靈活的系統架構,用于不斷升級增加測量功能,并縮短開發時間和測試時間。
-- 異質計算結構:未來的測試系統將會需要不同的處理節點,來滿足更加嚴格的分析與處理要求。
--IP to the Pin:在設計與測試階段分享FPGA IP可顯著縮短設計驗證時間,并改善生產測試時間與測試覆蓋性能。