廣島大學HiSIM研究中心的研究小組開發了IGBT（insulated gate bipolartransistor）電路設計和檢測用模型“HiSIM-IGBT”,并于5月10日在該大學向新聞媒體作了發布。并披露，已經面向車載集成電路設計人員等公開了該模型。
廣島大學從2005年開始就一直與豐田和豐田中央研究所共同研究普通車載用IGBT（insulated gate bipolartransistor）的模型。IGBT組合使用了雙極晶體管和MOSFET,而聯合研究小組則推導出可不分離這兩個晶體管，而整體模擬IGBT的模型公式，從而開發出了HiSIM-IGBT.制成一體化模型是為了精確表達兩個晶體管之間的相互作用。
發布會現場 右邊是廣島大學的三浦道子（研究生院尖端物質科學研究科教授兼HiSIM研究中心中心負責人）
HiSIM-IGBT以廣島大學和半導體理工學研究中心（STARC）聯合開發的MOSFET模型“HiSIM（Hiroshima-universitySTARC IGFET Model）”為骨架，并統合了雙極晶體管模型（參閱本站報道）。據介紹，采用HiSIM-IGBT使設計高精度電路成為可能，有望大幅推進能源利用的高效率化。
IGBT和HiSIM-IGBT
HiSIM系列的標準化動向
模型的精度和穩定性評測已完成，已達到可公開的程度。據稱，有為模型做嵌入式評測的EDA工具供應商已表示，即便是大電流電路和大電壓電路，也可以穩定預測特性。廣島大學打算通過發布該模型，使更多的用戶利用，以便進一步改進。
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