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泰克SuperSpeed測試解決方案幫助NEC電子獲得世界首項USB 3.0認證

時間:2010-03-26

來源:泰克科技(中國)有限公司

導語:泰克公司日前宣布,其SuperSpeed USB 解決方案 為NEC 電子符合USB 3.0 標準的主機提供信號質量監測,該主機是世界首款獲得USB設計者論壇USB 3.0 認證的產品。

      全球示波器市場的領導廠商— 泰克公司日前宣布,其SuperSpeed USB 解決方案 為NEC 電子符合USB 3.0 標準的主機提供信號質量監測,該主機是世界首款獲得USB設計者論壇USB 3.0 認證的產品。

      作為設計和生產集成電路的全球領導企業,NEC 電子選擇與泰克合作,驗證其新的硅元件以滿足新興的SuperSpeed USB 標準(USB3.0) 要求。USB 技術已經迅速被公認為連接電腦及外設的行業標準,與其它先進的高速接口如PCI Express 2.0 和SATA Gen 3 等相比,USB 3.0 的性能可以支持高達5Gbps 的數據速率,如此高的性能為測試測量帶來了更復雜的挑戰。為解決這些挑戰,必須使用高性能、高靈活度的測量設備,以及能夠加快和簡化設計、測量和分析過程的工具。借助泰克USB 3.0 測試解決方案,NEC 電子這類企業的工程師們可以對USB 設備進行檢定、調試和一致性測試,自動實現余量和一致性測試。對關鍵的USB 3.0 接收機余量測試, 泰克AWG7122B 任意波形發生器 則可提供無可比擬的信號生成靈活度,可以幫助客戶更快地把符合USB 3.0 標準的產品推向市場。

      泰克公司技術解決方案部市場經理Dave Slack 表示:“泰克一直與NEC 電子保持密切合作,共同驗證、測試和調試SuperSpeed USB 。今天,我們非常榮幸能為NEC 電子的產品開發做出貢獻,從而使其在業內率先獲得USB 3.0 認證。”

 

      泰克USB3.0 解決方案

      泰克SuperSpeed USB 一致性測試解決方案 基于一整套可提供優異的測量性能,滿足高速串行協議需求的儀器,包括實時和采樣示波器、任意波形發生器等。例如,DSA71254B 實時示波器 提供了高帶寬和低噪聲環境,可準確地捕獲和分析快速串行信號時鐘速率。對一致性測試中的眼圖分析和余量測試,匹配的示波器采集系統變得至關重要。與其類似的是,AWG7122B 任意波形發生器 提供了復雜的波形,可以模擬傳輸路徑的劣化效應,支持接收機測試。這些硬件工具與專業應用軟件配合使用,如DPOJET 抖動和眼圖分析工具 、SerialXpress 高級抖動生成工具 和TekExpress™ USB 3.0 自動一致性測試軟件 等,為工程師檢驗和調試設計提供了所需的工具。

      更多泰克即時信息,請登錄 Twitter, 參看 – @tektronix .

 

      關于泰克公司

      泰克公司是一家領先的測試、測量和監測產品提供商,它為全球通訊、計算機和半導體行業以及軍事/航空航天、消費電子、教育等行業提供各種測量解決方案和服務。泰克公司擁有60多年的豐富經驗,幫助用戶設計、構建、配置和管理下一代的全球通訊網絡、計算技術和先進技術。泰克公司的總部設在俄勒岡州畢佛頓,在全球19個國家和地區設有辦事機構。泰克公司的中文網址是www.tektronix.com.cn

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