PI Metro ?:半導體晶圓檢測的 高精度運動平臺
對于各類晶圓而言,均勻的基板和器件層厚度以及極低的缺陷密度,是決定成品率的關鍵前提條件;同時,晶圓的電阻率也需嚴格符合相關標準。為此,需要對薄膜進行表征,以評估其厚度、電阻率以及表面質量和粗糙度等特性。快速、可靠的測量技術有助于盡早發現缺陷,防止成品率損失,從而降低成本。PI目前正大力開發晶圓定位的運動解決方案,以便高效測量晶圓的關鍵特性。
1 PI Metro?運動解決方案的特點
? 可重復的快速步進與穩定運動;
? 可靠且高質量的大規模中國本地化生產;
? 符合ISO 14644潔凈室5級標準;
? 先進的ACS控制功能:龍門控制,2D映射;
? 遵循全球設計和計量標準;
? 模塊化和可擴展,支持定制;
? 快速、準時交付:12周;
? 快速服務響應:24小時內。
(1)θ軸——晶圓或基板的精細旋轉分度和對準
? 高精度且可重復的360度旋轉,無空回;
? 磁性直接驅動器可實現高速度和加速度;
? 直接驅動、無槽、無刷力矩電機可提供非常低的齒槽
轉矩并實現平穩的速度和低誤差運動;
? 超精密空氣軸承由內部開發和制造;
? 進一步提升性能,以優化異步操作的性能規格。
(2)Z軸——精密晶圓對準
? 低型面高度、高負載、結構緊湊的優異設計;
? 直驅音圈技術可實現零齒槽效應、納米級步長的平滑運動以及快速響應;
? 高分辨率編碼器可實現運動平臺的納米級定位;
? 高精度防蠕動交叉滾柱軸承;
? 氣動平衡系統可防止電機過熱并避免碰撞;
? 經濟實惠,交付快捷。
(3)XY軸——精密步進和穩定運動
? 安裝在基軸上的高動態耦合無鐵芯直線電機,可實現強勁、快速的精密運動;
? 雙編碼器系統可確保電機與偏轉角對準,同時實現高分辨率和高精度;
? 低型面高度多軸承剛性平臺可減少阿貝偏移,并實現更高的平面度和直線度;
? 設計可實現高度的靈活性和定制能力;
? 優化的集成電纜管理可減少運動阻力并延長使用壽命;
? 花崗巖底座可確保運動系統的較高性能;
? 選裝有源隔振系統。
(4)靈活輕松的自動化控制
? EtherCAT?運動控制和驅動模塊提供開放式網絡連接;
? 先進算法提供快速步進和穩定、高就位穩定性以及出色的恒定掃描速度。
>> ServoBoost?
? 廣泛的編程環境,支持高級語言;
? 控制器具有自動聚焦功能,可實現動態聚焦調整;
? 學習控制算法;
? 具有線性放大器性能的緊湊型運動控制系統。
2 薄膜厚度測量應用
? 在半導體制造過程中,在硅片上沉積了多個電介質層;
? 薄膜厚度測量用于測量各層的正確厚度;
? 通常使用光學技術“橢圓偏振法”;
? 橢圓偏振法測量光在薄膜表面上反射后的偏振度,從而可以確定這種層的厚度,直至埃水平。
Ellipsometry 橢圓偏振技術( Wikipedia free license: CCBY-SA 3.0)
圖 3 樣件 3 結構及實物圖
表 3 樣件 3 試驗情況
3A、3B均通過5000次交變壓力的壽命試驗,3C、3D均通過高低溫、振動及沖擊,3E、3F爆破壓力分別為46.75MPa及46.28MPa,符合(45.5±2.5)MPa。
3 結語
以某航空高壓氮氣瓶用爆破片為研究對象,分別按照上述兩種結構進行試制3種樣件,試驗研究其在高壓、高低溫、振動及沖擊等環境工況下的密封性能、爆破壓力及壽命情況。結果表明,相同試驗條件下,上下壓環壓接密封及直接焊接底座密封方式都存在缺陷,壓環焊接式爆破片可以耐受高壓、高低溫、振動及沖擊等環境工況,性能指標都符合要求,關于此方式密封結構會對爆破片產生何種影響,有必要進一步展開研究。