O 引言
ç›®å‰ï¼ŒåŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šæ£æœè‘—集æˆåŒ–ã€æ™ºèƒ½åŒ–和模塊化的方å‘發展。功率模塊為機電一體化è¨å‚™ä¸å¼±é›»èˆ‡å¼·é›»çš„連接æä¾›äº†ç†æƒ³çš„æŽ¥å£ã€‚
在任何é‹è¡Œç‹€æ…‹ä¸‹ï¼ŒåŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šéƒ½éœ€è¦å—到ä¿è·ï¼Œä»¥é¿å…其承å—ä¸å…è¨±çš„é›»æµæ‡‰åŠ›ï¼Œä¹Ÿå°±æ˜¯èªªï¼Œé¿å…功率模塊的é‹è¡Œå€è¶…出所給定的安全工作å€ã€‚
超出安全工作å€é‹è¡Œå°‡å°Žè‡´åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šå—æå‚·ï¼Œå…¶å£½å‘½æœƒç”±æ¤è€Œç¸®çŸã€‚情æ³åš´é‡æ™‚還會立刻導致功率模塊的æå£žã€‚
å› æ¤ï¼Œæœ€é‡è¦çš„æ˜¯å…ˆæª¢æ¸¬å‡ºè‡¨ç•Œçš„é›»æµç‹€æ…‹å’Œæ•…障,然åŽå†åŽ»æ°ç•¶åœ°éŸ¿æ‡‰å®ƒå€‘。
æœ¬æ–‡çš„æ•˜è¿°ä¸»è¦æ˜¯é‡å°IGBTçš„éŽé›»æµä¿è·ï¼Œä½†æ˜¯ï¼Œä¹Ÿå¯ä»¥é¡žæŽ¨æ‡‰ç”¨åˆ°åŠŸçŽ‡MOSFET。
1 故障電æµçš„種類
æ•…éšœé›»æµæ˜¯æŒ‡è¶…éŽå®‰å…¨å·¥ä½œå€çš„é›†é›»æ¥µæˆ–æ¼æ¥µé›»æµã€‚它å¯ä»¥ç”±éŒ¯èª¤çš„æŽ§åˆ¶æˆ–è² è¼‰å¼•èµ·ã€‚
故障電æµå¯é€šéŽä»¥ä¸‹æ©Ÿç†å°Žè‡´åŠŸçŽ‡åŠå°Žé«”çš„æå£žï¼›
1)由高功率æè€—導致的熱æå£žï¼›
2)動態雪崩擊穿;
3ï¼‰éœæ…‹æˆ–å‹•æ…‹çš„æ“Žä½æ•ˆæ‡‰ï¼›
4)由éŽé›»æµå¼•èµ·çš„éŽé›»å£“。
故障電æµå¯é€²ä¸€æ¥åŠƒåˆ†ç‚ºéŽé›»æµã€çŸè·¯é›»æµåŠå°åœ°æ•…障電æµã€‚
1.1 éŽé›»æµ
特å¾ï¼š
1)集電極電æµçš„diï¼dtä½Žï¼ˆå–æ±ºäºŽè² 載電感和驅動電壓);
2)故障電æµé€šéŽç›´æµæ¯ç·šå½¢æˆå›žè·¯ï¼›
3)功率模塊沒有離開飽和å€ã€‚
èµ·å› ï¼š
1ï¼‰è² è¼‰é˜»æŠ—é™ä½Žï¼›
2)逆變器控制出錯。
1.2 çŸè·¯é›»æµ
特å¾ï¼š
1ï¼‰é›†é›»æ¥µé›»æµæ€¥åŠ‡ä¸Šå‡ï¼›
2)故障電æµé€šéŽç›´æµæ¯ç·šå½¢æˆå›žè·¯ï¼›
3)功率模塊脫離飽和å€ã€‚
èµ·å› ï¼š
1)橋臂直通çŸè·¯ï¼ˆåœ–lä¸çš„æƒ…æ³1)
一一由于功率模塊失效而引起;
一一由于錯誤的驅動信號而引起。
2ï¼‰è² è¼‰çŸè·¯é›»æµï¼ˆåœ–lä¸çš„æƒ…æ³2)
一一由于絕緣失效而引起;
一一由于人為的失誤而引起(例如誤接線)。
1.3 å°åœ°æ•…障電æµ
圖lä¸çš„æƒ…æ³3。

特å¾ï¼š
1)集電極電æµçš„上å‡é€Ÿåº¦å–決于接地電感和作用于回路的電壓;
2)å°åœ°æ•…障電æµä¸ç¶“éŽç›´æµæ¯ç·šå½¢æˆå°é–‰å›žè·¯ï¼›
3)功率模塊脫離飽和å€èˆ‡å¦å–決于故障電æµçš„大å°ã€‚
èµ·å› ï¼š
由于絕緣的失效或人為的失誤使帶電導線和大地電ä½ä¹‹é–“å˜åœ¨é€£æŽ¥ã€‚
2 ICBTå’ŒMOSFET在éŽè¼‰åŠçŸè·¯æ™‚的特性
2.1 éŽé›»æµ
原則上,器件在éŽé›»æµæ™‚的開關和通態特性與其在é¡å®šæ¢ä»¶ä¸‹é‹è¡Œæ™‚的特性相比并沒有什么ä¸åŒã€‚ç”±äºŽè¼ƒå¤§çš„è² è¼‰é›»æµæœƒå¼•起功率模塊內較高的æè€—,所以,為了é¿å…è¶…éŽæœ€å¤§çš„å…è¨±çµæº«ï¼ŒåŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šçš„éŽè¼‰èŒƒåœæ‡‰è©²å—到é™åˆ¶ã€‚
在這里,ä¸åƒ…僅是éŽè¼‰æ™‚çµæº«çš„絕å°å€¼ï¼Œè€Œä¸”連éŽè¼‰æ™‚的溫度變化范åœéƒ½æ˜¯é™åˆ¶æ€§å› ç´ ã€‚
幾個ICBTå’ŒMOSFET的具體的é™å®šå€¼ï¼Œç”±åœ–2所示的典型功率模塊的安全工作å€çµ¦å‡ºã€‚

2.2 çŸè·¯
原則上,ICBTå’ŒMOSFET都是安全çŸè·¯å™¨ä»¶ã€‚也就是說,它們在一定的外部æ¢ä»¶ä¸‹å¯ä»¥æ‰¿å—çŸè·¯ï¼Œç„¶åŽè¢«é—œæ–·ï¼Œè€Œå™¨ä»¶ä¸æœƒç”¢ç”Ÿæå£žã€‚
在考察çŸè·¯æ™‚(以IGBT為例),è¦å€åˆ†ä»¥ä¸‹çš„兩種情æ³ã€‚
1)çŸè·¯I
çŸè·¯I是指功率模塊開通于一個已經çŸè·¯çš„è² è¼‰å›žè·¯ä¸ã€‚也就是說,在æ£å¸¸æƒ…æ³ä¸‹çš„ç›´æµæ¯ç·šé›»å£“全部é™è½åœ¨åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šä¸Šã€‚çŸè·¯é›»æµçš„上å‡é€Ÿåº¦ç”±é©…å‹•åƒæ•¸ï¼ˆé©…å‹•é›»å£“ã€æŸµæ¥µé›»é˜»ï¼‰æ‰€æ±ºå®šã€‚由于çŸè·¯å›žè·¯ä¸å¯„生電感的å˜åœ¨ï¼Œé€™ä¸€é›»æµçš„變化將產生一個電壓é™ï¼Œå…¶è¡¨ç¾ç‚ºé›†é›»æ¥µä¸€ç™¼å°„極電壓特性上的電壓陡é™ï¼Œå¦‚圖3所示。

ç©©æ…‹çŸè·¯é›»æµå€¼å±±åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šçš„è¼¸å‡ºç‰¹æ€§æ‰€æ±ºå®šã€‚å°äºŽIGBT來說,典型值最高å¯é”到é¡å®šé›»æµçš„8~10å€ã€‚
2)çŸè·¯â…¡
åœ¨æ¤æƒ…形下,功率模塊在çŸè·¯ç™¼ç”Ÿå‰å·²ç¶“處于導通狀態。和çŸè·¯â…¡æƒ…形相比較,功率模塊所å—的沖擊é 為甚之。
為了解釋這個éŽç¨‹ï¼Œåœ–4顯示了çŸè·¯â…¡çš„ç‰æ•ˆé›»è·¯åœ–åŠå…¶å®šæ€§çš„特性曲線。

一旦çŸè·¯ç™¼ç”Ÿï¼Œé›†é›»æ¥µé›»æµè¿…速上å‡ï¼Œå…¶ä¸Šå‡é€Ÿåº¦ç”±ç›´æµæ¯ç·šé›»å£“VDCå’ŒçŸè·¯å›žè·¯ä¸çš„電感所決定。
在時間段1內,IGBT脫離飽和å€ã€‚é›†é›»æ¥µä¸€ç™¼å°„æ¥µé›»å£“çš„å¿«é€Ÿè®ŠåŒ–å°‡é€šéŽæŸµæ¥µ 集電極電容產生一個ä½ç§»é›»æµï¼Œè©²ä½ç§»é›»æµåˆå¼•起柵極一發射極電壓å‡é«˜ï¼Œå…·çµæžœæ˜¯å‡ºç¾ä¸€å€‹å‹•æ…‹çš„çŸè·¯å³°å€¼é›»æµIC/SCM。
在IGBT完全脫離飽和å€åŽï¼ŒçŸè·¯é›»æµè¶¨äºŽå…¶ç©©æ…‹å€¼ï¼ˆæ™‚間段2)。這期間,回路的寄生電感將感應出一個電壓,其表ç¾ç‚ºIGBTçš„éŽé›»å£“。
在çŸè·¯é›»æµç©©å®šåŽï¼ˆæ™‚間段3),çŸè·¯é›»æµè¢«é—œæ–·ã€‚æ¤æ™‚æ›æµå›žè·¯ä¸çš„電感Lx將在IGBTä¸Šå†æ¬¡æ„Ÿæ‡‰ä¸€å€‹éŽé›»å£“(時間段4)。
IGBT在çŸè·¯éŽç¨‹ä¸æ‰€æ„Ÿæ‡‰çš„éŽé›»å£“å¯èƒ½æœƒæ˜¯å…¶æ£å¸¸é‹è¡Œæ™‚的數å€ï¼Œå¦‚圖5所示。

為ä¿è‰å®‰å…¨é‹è¡Œï¼Œå¿…é ˆæ»¿è¶³ä¸‹åˆ—é‡è¦çš„臨界æ¢ä»¶ï¼š
1)çŸè·¯å¿…é ˆè¢«æª¢æ¸¬å‡ºï¼Œå¹¶åœ¨ä¸è¶…éŽlOμs的時間內關閉;
2)兩次çŸè·¯çš„æ™‚間間隔最少為1sï¼›
3)在IGBT的總é‹è¡Œæ™‚間內,其çŸè·¯æ¬¡æ•¸ä¸å¾—大于1000次。
çŸè·¯Iå’ŒçŸè·¯â…¡å‡å°‡åœ¨åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šä¸å¼•èµ·æè€—ï¼Œå¾žè€Œä½¿çµæº«åœå‡ã€‚åœ¨é€™é‡Œï¼Œé›†é›»æ¥µä¸€ç™¼å°„æ¥µé›»å£“çš„æ£æº«åº¦ç³»æ•¸æœ‰è‘—ä¸€å€‹å„ªé»žï¼ˆå°æ¼æºé›»å£“ä¹ŸåŒæ¨£é©ç”¨ï¼‰ï¼Œå®ƒä½¿å¾—ç©©æ…‹çŸè·¯æœŸé–“的集電極電æµå¾—以é™ä½Žï¼Œå¦‚圖6所示。
3 故障的檢測和ä¿è·
逆變器ä¸çš„æ•…障電æµå¯ä»¥åœ¨ä¸åŒçš„節點檢測,å°è¢«æª¢æ¸¬åˆ°çš„æ•…障電æµçš„忇‰ä¹Ÿå¯èƒ½å„ä¸ç›¸åŒã€‚
這里將討論快速ä¿è·ï¼Œå‰ææ˜¯æ•…障電æµåœ¨åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šå…§éƒ¨è¢«æª¢æ¸¬åˆ°ï¼Œå¹¶ä¸”åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šç”±é©…å‹•å™¨ç›´æŽ¥é—œæ–·ã€‚åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šçš„ç¸½éŸ¿æ‡‰æ™‚é–“å¯èƒ½åªæœ‰æ•¸åns。
è‹¥æ•…éšœé›»æµæª¢æ¸¬ä½äºŽåŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šä¹‹å¤–ï¼Œå‰‡æ•…éšœé›»æµä¿¡è™Ÿé¦–先被é€è‡³é€†è®Šå™¨çš„æŽ§åˆ¶æ¿ï¼Œå¹¶å¾žé‚£é‡Œå‡ºç™¼å¹¶è§¸ç™¼æ•…éšœåæ‡‰ç¨‹åºï¼Œé€™ä¸€éŽç¨‹è¢«ç¨±ä½œæ…¢ä¿è·ã€‚æ¤éŽç¨‹ç”šè‡³é‚„å¯ä»¥ç”±é€†è®Šå™¨çš„æŽ§åˆ¶èª¿ç¯€ç³»çµ±ä¾†è™•ç†ï¼ˆä¾‹å¦‚,系統å°éŽè¼‰çš„忇‰ï¼‰ã€‚
3.1 故障電æµçš„æª¢æ¸¬
圖7給出了一個電壓型逆變電路。在這里,å¯èƒ½æª¢æ¸¬åˆ°æ•…障電æµçš„æ¸¬è©¦é»žå‡è¢«æ³¨å‡ºã€‚

故障電æµçš„æª¢æ¸¬å¯ä»¥ä½œå¦‚下劃分:
1)éŽé›»æµ å¯åœ¨â‘ ~⑦點檢測;
2)橋臂直通çŸè·¯ å¯åœ¨â‘ ~④和⑥~⑦點檢測;
3ï¼‰è² è¼‰çŸè·¯ å¯åœ¨â‘ ~⑦點檢測;
4)å°åœ°çŸè·¯ å¯åœ¨â‘ ã€â‘¢ã€â‘¤ã€â‘¥é»žæª¢æ¸¬ï¼Œæˆ–é€šéŽæ±ç®—①與②點電æµä¹‹å·®è€Œå¾—到。
原則上,控制çŸè·¯é›»æµè¦æ±‚快速的ä¿è·æŽªæ–½ï¼Œä»¥åœ¨é©…動電路的輸出端實ç¾ç›´æŽ¥æŽ§åˆ¶ï¼ŒåŽŸå› æ˜¯åœ¨çŸè·¯ç™¼ç”ŸåŽåŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šå¿…é ˆåœ¨lOμs之內關閉。為æ¤ï¼Œæ•…障電æµå¯ä»¥åœ¨æª¢æ¸¬é»žâ‘¢ã€â‘£ã€â‘¥å’Œâ‘¦è™•檢測。
在①~⑤點的測é‡å¯ä»¥é€šéŽæ¸¬é‡åˆ†æµå™¨æˆ–感應å¼é›»æµè®Šæ›å™¨ä¾†å¯¦ç¾ã€‚
3.1.1 測é‡ç”¨åˆ†æµå™¨
1ï¼‰æ¸¬é‡æ–¹æ³•簡單;
2ï¼‰è¦æ±‚低電阻(1O~lOOmΩ)ã€ä½Žé›»æ„Ÿçš„功率分æµå™¨ï¼›
3)測é‡ä¿¡è™Ÿå°å¹²æ“¾é«˜åº¦éˆæ•ï¼›
4)測é‡ä¿¡è™Ÿä¸å¸¶é›»ä½éš”離。
3.1.2 測é‡ç”¨é›»æµäº’感器
1)é 較分æµå™¨å¾©é›œï¼›
2)與分æµå™¨ç›¸æ¯”較,測é‡ä¿¡è™Ÿä¸æ˜“å—干擾;
3)測é‡å€¼å·²è¢«éš”離。
在測試點⑥和⑦,故障電æµçš„æª¢æ¸¬å¯ä»¥ç›´æŽ¥åœ¨IGBT或MOSIEET的端å處進行。在這里,ä¿è·æ–¹æ³•å¯ä»¥æ˜¯vCEsat或vDS(os)檢測(間接測暈),或者是é¡åƒé›»æµæ§æ¸¬ã€‚åŽè€…采用一個傳感器一å°éƒ¨åˆ†çš„æª¢æ¸¬IGBTå–®å…ƒçš„è¾¦æ³•ä¾†åæ˜ 主電æµï¼ˆç›´æŽ¥æ¸¬é‡ï¼‰ã€‚圖8給出了原ç†é›»è·¯åœ–。

3.1.3 用é¡åƒICBT來檢測電æµ
在一個é¡åƒIGBTä¸ï¼Œä¸€å°éƒ¨åˆ†çš„ICBT單元和一個用于檢測的發射極電阻相çµåˆï¼Œä¸”å¹¶è¯äºŽä¸»IGBT的電æµè‡‚上。一旦導通的集電極電æµé€šéŽæ¸¬é‡é›»é˜»ï¼Œä¾¿å¯ä»¥ç²å¾—å…¶ä¿¡æ¯ã€‚在Rsense=0æ™‚ï¼Œå…©å€‹ç™¼å°„æ¥µä¹‹é–“çš„é›»æµæ¯”ç‰äºŽç†æƒ³å€¼ï¼Œç‚ºé¡åƒIGBT單元數與總單元數之比。如果Rsense增大,則測é‡é›»è·¯ä¸å°Žé€šçš„é›»æµå°‡å› 測é‡ä¿¡è™Ÿçš„å饋而減å°ã€‚
å› æ¤ï¼Œé›»é˜»Rsense應被控制在1~5Ω的范åœå…§ï¼Œä»¥ä¾¿ç²å¾—è¶³å¤ æº–ç¢ºçš„é›†é›»æ¥µé›»æµæ¸¬é‡çµæžœã€‚
如果用于關斷的電æµé–€é™å€¼åªæ˜¯ç•¥å¤§äºŽåŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šçš„é¡å®šé›»æµï¼Œé‚£ä¹ˆåœ¨IGBTé–‹é€šæœŸé–“ï¼Œå› ç‚ºåå‘續æµäºŒæ¥µç®¡å呿¢å¾©é›»æµå³°å€¼çš„ä½œç”¨ï¼Œé›»æµæª¢æ¸¬å¿…é ˆé—œé–‰ï¼ˆåœ¨ç¡¬é–‹é—œé›»è·¯ä¸ï¼‰ã€‚
若檢測電阻趨于無é™å¤§æ™‚(Rsense→∞),則其測é‡é›»å£“ç‰äºŽé›†é›»æ¥µä¸€ç™¼å°„æ¥µé£½å’Œé›»å£“ã€‚å› æ¤ï¼Œé¡åƒé›»æµæª¢æ¸¬è½‰åŒ–為vCEsat檢測。
3.2 故障電æµçš„é™ä½Ž
通éŽé™ä½Žæˆ–é™åˆ¶é«˜é¡æ•…障電æµï¼Œç‰¹åˆ¥è¶³åœ¨çŸè·¯å’Œä½Žé˜»æŠ—çš„å°åœ°çŸè·¯æƒ…æ³ä¸‹ï¼ŒåŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šå¯ä»¥ç²å¾—更好的ä¿è·ã€‚
如圖l䏿‰€ç¤ºçš„那樣,在çŸè·¯â…¡æƒ…形下,高dvCE/dt引起柵極——發射極電壓上å‡ï¼Œé€²è€Œç”¢ç”Ÿä¸€å€‹å‹•æ…‹çš„çŸè·¯éŽé›»æµã€‚
çŸè·¯é›»æµçš„幅度å¯ä»¥é€šéŽæŸµæ¥µâ€”—發射極電壓的ç®ä½ä¾†é™ä½Žã€‚
除了é™åˆ¶å‹•æ…‹çŸè·¯éŽé›»æµå¤–,穩態的çŸè·¯é›»æµä¹Ÿå¯ä»¥é€šéŽæ¸›å°æŸµæ¥µâ€”—發射極電壓的方法來減å°ã€‚這一方法將減å°çŸè·¯æœŸé–“功率模塊的æè€—ï¼ŒåŒæ™‚由于需關斷的çŸè·¯é›»æµè¼ƒä½Žï¼ŒéŽé›»å£“也隨之é™ä½Žã€‚其原ç†è¦‹åœ–9所示。

這一ä¿è·æŠ€è¡“å¯ä»¥å°‡è€æ²–擊功率模塊的穩態çŸè·¯é›»æµé™åˆ¶åœ¨é¡å®šé›»æµçš„3å€å·¦å³ã€‚
4 çµèªž
éš¨è‘—é›»åŠ›é›»åæŠ€è¡“的發展,類似IGBTã€MOS-FET的功率模塊的應用也越來越普åŠã€‚為了其安全高效地工作é‹è¡Œï¼Œå¿…é ˆå°åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šè€ƒæ…®éŽé›»æµä¿è·æŽªæ–½ã€‚首先,應能在最çŸçš„æ™‚間內檢測到éŽé›»æµæ•…障,然åŽï¼Œé‡‡å–é©ç•¶çš„æ–¹å¼ä¿è·åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šã€‚
有時候,在éŽé›»æµç™¼ç”Ÿæ™‚,立å³é—œæ–·åŠŸçŽ‡æ¨¡å¡Šå¹¶ä¸æ˜¯æœ€ä½³æ–¹å¼ã€‚一個極為簡單的動態柵極控制的ä¿è·æ–¹å¼æ˜¯ï¼Œåœ¨IGBTå’ŒMOSFETéŽæµæˆ–çŸè·¯æƒ…æ³ä¸‹é‡‡ç”¨é™ä½ŽæŸµæ¥µâ€”—發射極電壓的方法,減慢關斷éŽç¨‹ã€‚這就是功率模塊的“軟â€é—œæ–·éŽç¨‹ã€‚