接觸式、單點、線激光3D相機在高精微區(半導體、光學元件等)檢測難題
01傳統檢測效率低
接觸式測量、單點掃描或線激光掃描，難以一次性高效精準完成測量。
02復雜結構檢測難度大
高反光表面、曲面以及孔洞等復雜幾何結構，容易產生測量盲區、精度不足等問題。
03設備成本高，系統集成復雜
高速高精度檢測通常依賴運動平臺、高性能計算單元和軟件系統，設備成本高，系統集成復雜。
OPT雙投影FPB系列3D相機，憑借高性能與高集成度優勢，滿足精密制造中微區高精度、高節拍3D視覺檢測需求。
1次拍攝成像，縮短檢測時間
相機向物體投射結構光，通過捕捉其在物體表面產生的形變，結合算法處理，一次性獲取物體的完整三維信息，避免多次掃描，大幅縮短檢測時間，無需引入運動平臺，降低設備成本與系統復雜性。
消除陰影盲區，測量死角減少95%
自研雙光機投影系統，通過多向組合設計，消除單一方向投影造成的陰影、盲區，測量死角減少95%以上;搭配高精度3D算法與多圖像融合技術，精準構建高反光、透明材質及深槽、孔洞等復雜結構的三維圖像。
亞微米級重復精度，適配精密制造
Z軸重復精度≤0.5μm，滿足半導體、光學元件、精密加工等領域超高精度檢測需求。
采集傳輸一體化，效率提升超1倍
相機集成高性能計算單元，可獨立實現圖像采集、處理與傳輸，直接輸出高精度3D點云圖，節省PC端算力，減少延遲，系統運行效率提升超1倍。
典型應用場景
即插即用SDK，方便用戶快速集成開發
廣泛適用于半導體、鋰電、3C等精密制造領域
OPT領跑結構光3D成像技術革新，以精度與效率雙重突破助力智造提質增效，聚焦工業升級需求，持續完善產品生態，加速技術產業化應用。
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