時間:2020-10-26 10:47:21來æºï¼šä¸åœ‹å‚³å‹•ç¶²
實è¸è‰æ˜Žï¼ŒPLC產å“çš„å¤§å¤šæ•¸æ•…éšœçš„åŽŸå› ï¼Œéƒ½æ˜¯åœ¨åˆ¶é€ éŽç¨‹ä¸ç”¢ç”Ÿçš„ã€‚è€Œåœ¨åˆ¶é€ éŽç¨‹ä¸ï¼Œè¦ä¿è‰PLC產å“çš„å¯é 性與穩定性,最é‡è¦çš„就是PLCç”¢å“æ¸¬è©¦ï¼Œåªæœ‰é€šéŽå®Œæ•´å’Œå…¨é¢çš„æ¸¬è©¦ï¼Œæ‰èƒ½ç™¼ç¾LIC產å“ä¸å˜åœ¨çš„å•題,å†çµ¦äºˆè§£æ±ºã€‚å¾žåˆ¶é€ æµç¨‹ä¸Šä¾†åˆ†ï¼ŒPLCçš„ç”¢å“æ¸¬è©¦å¯ä»¥åˆ†ç‚ºå››å€‹éƒ¨åˆ†ï¼š
首先是元器件的測試,也包括外å”件的測試。這時大多采用抽樣的方法,其實,在采購之å‰ï¼Œå°±è¦å°ä¾›æ‡‰å•†çš„è³‡æ ¼é€²è¡Œèªå®šï¼Œè¦é¿å…ä¸è¦èŒƒé‹ä½œçš„元器件供應商,并與åˆè³‡æ ¼çš„供應商建立長期的關系,這樣,å¯ä»¥ä¿è‰é€²ä¾†çš„å…ƒå™¨ä»¶å¾žæ ¹æœ¬ä¸Šä¸æœƒå‡ºå¤§çš„å•題。
但å³ä¾¿æ˜¯å°é•·æœŸçš„æ£è¦çš„供應商,也è¦é€²è¡Œå…¥åº«å‰çš„æª¢é©—,通常,首先è¦é€²è¡Œç›®æ¸¬ï¼ŒåŒ…括數é‡çš„æ¸…å–®ï¼Œåž‹è™Ÿçš„æ ¸å°ï¼Œæ‰¹è™Ÿå’Œç”Ÿç”¢æ—¥æœŸç‰ã€‚ç„¶åŽï¼Œå°å…ƒå™¨ä»¶é€²è¡ŒæŠ½æ¨£æª¢æ¸¬ï¼›ç”±äºŽPLC的質é‡è¦æ±‚è¼ƒé«˜ï¼Œå› æ¤ï¼Œç›¡å¯èƒ½å°‡æŠ½æ¨£çš„æ¯”ä¾‹åŠ å¤§ï¼Œé€™æ¨£å¯ä»¥å¢žåŠ ç™¼ç¾æ•…障元件的概率。
元器件測試完æˆåŽï¼Œç¬¬äºŒæ¥å°±æ˜¯è¦åœ¨ç”Ÿç”¢éŽç¨‹ä¸ï¼Œå°æ¯å€‹ç”Ÿç”¢åР工工åºé€²è¡Œçš„QC測試。å°PLCçš„ç”Ÿç”¢ä¾†èªªï¼Œä¸»è¦æ˜¯ç·šè·¯æ¿çš„æ¸¬è©¦ï¼Œé€šå¸¸åŒ…括:絲å°ã€è²¼ç‰‡ã€å›žæµç„Šã€æ³¢å³°ç„Šã€æ‰‹å·¥æ’件和焊接幾個工åºï¼Œé€™æ™‚ï¼Œæœ€å¥½å°æ¯å€‹æ¨¡å¡Šçš„æ¯å€‹å·¥åºåšä¸€å€‹å°ˆç”¨çš„æ¸¬è©¦æž¶ï¼Œæ‰èƒ½ä¿è‰èƒ½å¤ 高效而準確地測é‡å‡ºæ¯å€‹æ¨¡å¡Šçš„質é‡ã€‚
åœ¨åˆ¶é€ éŽç¨‹ä¸ï¼Œä¸€æ—¦ç™¼ç¾è³ªé‡å•題,è¦ç«‹å³æ‰¾å‡ºåŽŸå› ï¼Œçœ‹æ˜¯ç”±äºŽå…ƒå™¨ä»¶æœ¬èº«çš„åŽŸå› ï¼Œé‚„æ˜¯åŠ å·¥è³ªé‡çš„åŽŸå› ã€‚å¦‚æžœæ˜¯åŽè€…ï¼Œåœ¨å‡ºç¾æ¯”例比較大的故障如虛焊ç‰ç¾è±¡åŽï¼Œè¦åŠæ™‚調整生產è¨å‚™çš„å·¥ä½œåƒæ•¸ï¼Œæ—¢è¦ä¿è‰ç”Ÿç”¢é€Ÿåº¦å’Œç”Ÿç”¢çŽ‡ï¼Œä¹Ÿè¦ä¿è‰é™ä½Žæ•…障率。如果PLCåˆ¶é€ å•†æœ‰è‡ªå·±çš„ç”Ÿç”¢ç·šï¼Œæ‡‰è©²å°‡æ¯å€‹æ¨¡å¡Šçš„æœ€ä½³ç”Ÿç”¢ç‹€æ…‹åƒæ•¸ä¿å˜ä¸‹ä¾†ï¼Œä»¥åŽæ¯æ¬¡ç”Ÿç”¢åŒæ¨£çš„æ¨¡å¡Šçš„æ™‚候,å¯ä»¥æŒ‰ç…§è©²æœ€ä½³çš„ç‹€æ…‹é€²è¡Œç”Ÿç”¢ã€‚è€Œä¸”ï¼Œé€™å€‹æœ€ä½³çš„ç”Ÿç”¢ç‹€æ…‹åƒæ•¸æ˜¯è¦ä¸æ–·æ›´æ–°çš„。
ç”Ÿç”¢åˆ¶é€ å®ŒæˆåŽï¼Œæ˜¯æ¨¡å¡Šçš„è£é…環節。è£é…完æˆåŽï¼Œè¦é€²è¡Œæ¨¡å¡Šçš„æ€§èƒ½æ¸¬è©¦ã€‚這一æ¥çš„æ¸¬è©¦æ˜¯å分關éµçš„ï¼Œå› ç‚ºæœ€é‡è¦çš„æ€§èƒ½æ¸¬è©¦éƒ½æ˜¯åœ¨é€™å€‹ç’°ç¯€ï¼Œç”±äºŽé€šå¸¸PLCçš„å„ç¨®æ¨¡å¡Šéœ€è¦æ¸¬è©¦çš„åƒæ•¸è¼ƒå¤šï¼Œå› æ¤ï¼Œä¸€å®šè¦ç‚ºæ¯å€‹åž‹è™Ÿçš„æ¯å€‹æ¨¡å¡Šåˆ¶ä½œå°ˆé–€çš„æ¸¬è©¦æž¶ï¼Œå¹¶é‡‡ç”¨è‡ªå‹•æ¸¬è©¦å·¥è£ï¼Œé€™æ¨£æ‰èƒ½ä¿è‰æ¸¬è©¦åƒæ•¸çš„å…¨é¢å’Œå®Œæ•´ï¼ŒåŒæ™‚也ä¿è‰æ¸¬è©¦çš„生產率。這是生產éŽç¨‹ä¸æ¸¬è©¦çš„第三æ¥ã€‚
模塊測試完畢åŽï¼Œè¦å°‡æ¨¡å¡Šé€å…¥è€åŒ–室進行高溫è€åŒ–。關于è€åŒ–,有許多人會將之與高溫測試混åŒèµ·ä¾†ã€‚其實,這是完全ä¸åŒçš„。產å“çš„é«˜æº«æ¸¬è©¦ï¼Œä¸»è¦æ˜¯æª¢æ¸¬è©²ç”¢å“èƒ½å¤ åœ¨è¨è¨ˆçš„é«˜æº«å·¥ä½œå€æ®µé‡Œæ£å¸¸å·¥ä½œï¼Œæ¯”如,如果PLC的工作溫度是55度,那么åªè¦åœ¨55度的范åœå…§é–‹æ©Ÿé€²è¡Œå·¥ä½œæ¸¬è©¦ï¼Œåœ¨æ¨¡å¡Šé‡Œçš„æº«åº¦é”到穩定åŽï¼ˆé€šå¸¸ç‚ºåŠå°æ™‚å·¦å³ï¼‰å°±å¯ä»¥äº†ã€‚但是,è€åŒ–則完全是å¦å¤–一個概念。
æ¯å€‹ç”¢å“的元器件都有一定的壽命周期,比如,電å元器件的壽命為10年,那么,在這個壽命周期了,å‰ä¸‰å€‹æœˆçš„æ•…éšœçŽ‡æ˜¯å¾ˆé«˜çš„ï¼Œå…¶åŽæ•…障率會越來越低,在三個月之åŽï¼Œé”到穩定,故障率就會é™åˆ°ä¸€å€‹æ¯”較低的水平,一直到10å¹´å·¦å³ï¼Œå™¨ä»¶é”到了壽命,故障率åˆé–‹å§‹ä¸Šå‡ã€‚
ç”Ÿç”¢åˆ¶é€ éŽç¨‹ä¸çš„è€åŒ–,就是è¦é€šéŽé«˜æº«é‹è¡Œï¼Œå°‡ç”¢å“剿œŸçš„æ•…障率較高的時間縮çŸï¼Œä½¿ç”¢å“åœ¨å‡ºå» å‰å°±è·¨è¶ŠéŽé€™å€‹éšŽæ®µï¼Œé€²å…¥ä½Žæ•…障率階段。è€åŒ–的溫度和時間與產å“çš„ä¸åŒç¨®é¡žæœ‰é—œï¼Œå°äºŽé›»å產å“來說,如果è¨å®šåœ¨55~60度的溫度,å¯ä»¥å°‡å‰æœŸçš„高故障率的時間從三個月縮çŸåˆ°ä¸‰å¤©å·¦å³ã€‚這就是為什么許多電å產å“çš„è€åŒ–時間在72å°æ™‚çš„åŽŸå› ã€‚å› æ¤ï¼Œè€åŒ–是PLC產å“生產éŽç¨‹çš„一é“é‡è¦å·¥åºï¼Œè€Œä¸èƒ½åƒ…僅被看作是一個測試的éŽç¨‹ã€‚
知é“了上é¢çš„é“ç†ï¼Œå°±åŒæ¨£æœƒæ˜Žç™½ç”¢å“çš„è€åŒ–éŽç¨‹æ˜¯å分é‡è¦çš„,而且,è€åŒ–åŽçš„æ¸¬è©¦æ›´åŠ é‡è¦ã€‚å› ç‚ºï¼Œå®¹æ˜“å‡ºç¾æ•…障的模塊,在è€åŒ–éŽç¨‹ä¸ï¼Œçµ•大部分的潛在故障會在è€åŒ–æœŸé–“æš´éœ²å‡ºä¾†ï¼Œå› æ¤ï¼Œå¿…é ˆå°è€åŒ–åŽçš„產å“é€²è¡Œåš´æ ¼çš„æ¸¬è©¦ã€‚æ¸¬è©¦çš„æ–¹æ³•å’Œæ‰‹æ®µèˆ‡è€åŒ–å‰çš„æ¨¡å¡Šæ¸¬è©¦æ‰‹æ®µç›¸ä¼¼ï¼Œä½†å¿…é ˆå…¨éƒ¨å®Œæ•´åœ°æª¢æ¸¬ã€‚æœ‰äº›æ¸¬è©¦äººå“¡èªç‚ºç”¢å“已經測éŽä¸€æ¬¡äº†ï¼Œå› æ¤ï¼Œå°è€åŒ–åŽçš„ç”¢å“æ¸¬è©¦å¾€å¾€æ”¾æ¾ï¼Œå…¶å¯¦ï¼Œé€™æ˜¯å¤§éŒ¯è€Œç‰¹éŒ¯çš„。è€åŒ–åŽçš„æ¸¬è©¦ï¼Œå°±æ˜¯PLCåœ¨åˆ¶é€ éŽç¨‹ä¸æ¸¬è©¦çš„第四æ¥ã€‚
ä»¥ä¸Šçš„å››æ¥æ˜¯PLC的硬件測試的介紹。由于軟件也是PLCçš„é‡è¦çµ„æˆéƒ¨åˆ†ï¼Œå› æ¤ï¼Œå°PLCçš„å…§éƒ¨çš„è»Ÿä»¶ï¼ŒåŒæ¨£è¦é€²è¡Œæ¸¬è©¦ã€‚通常,由于產å“ä¿å¯†çš„åŽŸå› ï¼Œå³ä¾¿æ˜¯å¤–å”åŠ å·¥çš„æ¨¡å¡Šï¼Œå…¬å¸çš„é—œéµè»Ÿä»¶å¿…é ˆåœ¨å…¬å¸å…§éƒ¨é€²è¡Œå®‰è£ï¼Œæœ‰é—œæ¸¬è©¦åŠŸèƒ½ä¹Ÿå¿…é ˆåœ¨å…¬å¸å…§éƒ¨å®Œæˆã€‚
有關軟件功能測試åˆåˆ†ç‚ºåº•層嵌入å¼è»Ÿä»¶æ¸¬è©¦å’Œç·¨ç¨‹è»Ÿä»¶çš„æ¸¬è©¦ã€‚
底層嵌入å¼è»Ÿä»¶æŒ‡PLC的系統軟件,å³åœ¨ç”¢å“çš„CPU模件內的嵌入å¼å›ºåŒ–軟件(FIRMWAREï¼‰ï¼Œåœ¨å·¥æ¥æŽ§åˆ¶ç³»çµ±çš„CPU模塊里,都有一個ICèŠ¯ç‰‡ï¼Œé‡Œé¢æ˜¯CPU的固化系統軟件。通常稱之為SOC(SystemOnChip),這個SOCæ˜¯æŽ§åˆ¶å™¨çš„æ ¸å¿ƒã€‚å¯¦ç¾SOC的方å¼ä¸»è¦æœ‰ASICå’ŒFPGA兩種。目å‰ï¼Œå¾·ç¶æ£®çš„主è¦çš„嵌入å¼è»Ÿä»¶æ˜¯ç”¨FPGAæŠ€è¡“ä¾†é€²è¡Œå›ºåŒ–çš„ï¼Œå› æ¤é€™é‡Œåªç°¡å–®ä»‹ç´¹FPGA芯片的測試æµç¨‹ã€‚
åœ¨é€²è¡Œåˆ¶é€ éŽç¨‹çš„芯片測試時,首先è¦å°‡FPGAèŠ¯ç‰‡çš„åŽŸæ–™æª¢é©—å§”æ‰˜ä¾›æ‡‰å•†é€²è¡Œï¼Œå…¬å¸æ¯æœˆä¸€æ¬¡é€²è¡ŒæŠ½æª¢ï¼Œä»¥ä¿è‰èŠ¯ç‰‡æœ¬èº«çš„è³ªé‡æ²’有å•é¡Œï¼›åŒæ™‚,所è¦åµŒå…¥çš„è»Ÿä»¶å¿…é ˆå·²ç¶“é€šéŽFPGAæ¨£ç‰‡èª¿è©¦ï¼ŒåŠŸèƒ½å·²ç¶“åˆæ ¼ã€‚
芯片首先通éŽèŠ¯ç‰‡å¯«å…¥å™¨å°‡è»Ÿä»¶å¯«å…¥ï¼Œä¹‹åŽï¼Œç”±æ¸¬è©¦äººå“¡å°‡èŠ¯ç‰‡æ’入到測試電路上,使用é‚輯分æžå„€å°èŠ¯ç‰‡çš„é 先指定的管腳波形進行é‚è¼¯åˆ†æžæ¸¬è©¦ï¼Œç‚ºäº†ä¿è‰èƒ½å¤ å°èŠ¯ç‰‡é€²è¡Œ100%的測試,這一æ¥é©Ÿåªå°å¹¾å€‹é—œéµé»žçš„æ³¢å½¢é€²è¡Œæ¸¬è©¦ã€‚é‚輯測試完æˆåŽï¼Œå°èŠ¯ç‰‡é€²è¡Œé›»æ€§èƒ½æ¸¬è©¦ï¼Œé€™ä¸€æ¥é©Ÿä¸»è¦æ¸¬è©¦èŠ¯ç‰‡çš„å·¥ä½œé›»å£“çš„é«˜ä½Žé™å€¼å’Œè‡ªå‹•æ¢å¾©æ€§èƒ½ã€‚電氣性能測試完æˆåŽï¼Œé–‹å§‹å°èŠ¯ç‰‡é€²è¡Œè€åŒ–測試。è€åŒ–åŽï¼Œå†é€²è¡Œä¸€æ¬¡é‚è¼¯åˆ†æžæ¸¬è©¦ï¼Œå¹¶é¸å–至少5%çš„èŠ¯ç‰‡é€²è¡Œç¶œåˆæ€§èƒ½æ¸¬è©¦ï¼Œä¸»è¦æ˜¯è§€å¯ŸèŠ¯ç‰‡çš„è»Ÿä»¶åŠŸèƒ½ä¾›è¨è¨ˆä¿®æ”¹åƒè€ƒã€‚
產å“的編程軟件的測試通常ä¸åœ¨åˆ¶é€ éŽç¨‹æ¸¬è©¦ï¼Œæˆ‘å°‡åœ¨ç”¢å“æ‡‰ç”¨éŽç¨‹çš„æ¸¬è©¦ä¸æ•˜è¿°ã€‚
ä»¥ä¸Šçš„åˆ¶é€ éŽç¨‹çš„æ¸¬è©¦ä¸»è¦æŒ‡çš„æ˜¯æ€§èƒ½æ¸¬è©¦ã€‚æ¤å¤–,å°PLC產å“,還è¦é€²è¡Œå°ˆé–€çš„å¯é 性測試。
產å“çš„å¯é æ€§æ¸¬è©¦åŒ…æ‹¬ç’°å¢ƒæ¸¬è©¦ã€æ©Ÿæ¢°æ€§èƒ½æ¸¬è©¦å’Œé›»æ°£æ€§èƒ½æ¸¬è©¦ã€‚æ©Ÿæ¢°æ€§èƒ½æ¸¬è©¦ä¸»è¦æ˜¯æ¸¬è©¦ç”¢å“包è£çš„æ©Ÿæ¢°å®Œæ•´æ€§ï¼ŒåŒ…æ‹¬ç„ŠæŽ¥é»žçš„ç‰¢å›ºæ€§ã€æ¨¡å…·çš„ç²¾å¯†åº¦ã€æŽ¥ç·šç«¯å的牢固度ç‰ã€‚ç’°å¢ƒæ¸¬è©¦ä¸»è¦æ¸¬è©¦ç”¢å“在惡劣æ¢ä»¶ä¸‹å˜æ”¾åŠä½¿ç”¨çš„è€ç”¨æ€§ï¼ˆæˆ–壽命,通常以平å‡ç„¡æ•…障時間計算)。電氣性能測試是用來驗è‰ç”¢å“在å³å°‡ä½¿ç”¨çš„ç’°å¢ƒä¸æ˜¯å¦ç¶“å¾—èµ·å„ç¨®é›»æ°£ç’°å¢ƒçš„è€ƒé©—ã€‚æ ¹æ“šåœ‹å®¶æœ‰é—œè¦å®šï¼Œå¯é 性測試(包括EMCã€æŒ¯å‹•和沖擊以åŠç²‰å¡µæ¸¬è©¦ç‰ï¼‰åœ¨æ¯ç¨®ç”¢å“首批樣å“生產åŽï¼Œåˆ°æ¬Šå¨çš„å°ˆæ¥æ¸¬è©¦æ©Ÿæ§‹é€²è¡Œè©¦é©—å³å¯ï¼Œä¹‹åŽæ¯å¹´ä¸€æ¬¡åˆ°æ”¿åºœå°ˆæ¥çš„æ¸¬è©¦ä¸å¿ƒé€æª¢ä¸€æ¬¡ã€‚å…¬å¸å…§éƒ¨å°ç”¢å“åªé€²è¡Œè€å£“和高低溫è€åŒ–測試,ä¸éœ€è¦å°æ¯å€‹ç”¢å“çš„æ¯å€‹æ‰¹æ¬¡éƒ½é€²è¡Œå¯é 性測試。
環境測試包括高溫ã€ä½Žæº«ã€é¹½éœ§ã€ç²‰å¡µã€æ˜“ç‡ƒæ˜“çˆ†æ€§æ°£é«”ã€æ¿•åº¦ã€æµ·æ‹”測試ç‰ï¼›æ©Ÿæ¢°æ€§èƒ½æ¸¬è©¦åŒ…æ‹¬æŒ¯å‹•ã€æ²–擊ã€åŠ é€Ÿæ‡‰åŠ›ç‰ï¼›é›»æ°£æ€§èƒ½æ¸¬è©¦åŒ…括EMCé›»ç£å…¼å®¹æ€§è©¦é©—(包括輻射特性ã€éœé›»ã€ç¾¤è„ˆæ²–ç‰ï¼‰ã€è§¸é»žè©¦é©—(主è¦å°é–‹é—œé‡è¼¸å…¥è¼¸å‡ºæ¨¡å¡Šï¼‰å’Œè€å£“試驗ç‰ã€‚逿ª¢ç”¢å“為隨機抽樣,通常為兩套。
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