NI于2014年推出的NISTS，基于實驗室儀表級別精度的模塊化儀器，同時滿足測試精度和量產測試覆蓋率的需求。NISTS是基于模塊化儀器的PXI平臺，因此，NISTS可以不斷擴展以滿足日益增多以及定制化的測試需求。

圖1.NI半導體測試系統內部架構

NISTS具有統一的測試平臺——PXI平臺，可根據設計檢驗到生產測試而隨時調整、讓設計與測試部門輕松共用資料，進而降低成本。此外，PXI平臺開放式與模塊化的設計，使您可以獲得更強大的計算能力及更豐富的儀器資源，進一步提升半導體測試效率。

NI不斷在PXI平臺上提供最頂尖的儀器技術來滿足半導體產業的測試任務。在這樣的平臺下，在實驗室和產線中內部構造基本一致。在實驗室中使用到的高性能的儀器在產線中依然可以使用，并加入如分選機(Handler)/探針(Prober)的集成、標準Docking(包括SoftDock/HardDock)、待測彈簧探針連接、STDF數據報表生成和系統校準等特性，可輕松集成到生產測試滿足半導體產線測試的要求。

同樣在實驗室和量產測試使用統一開發環境LabVIEW和測試管理執行軟件TestStand，可最大化復用實驗室中的代碼，減少數據關聯(Correlation)時間，進一步提升半導體測試效率。

圖2.FT測試

為了幫助半導體工程師更好的使用NISTS，小編特意為大家準備了STS系列培訓教程(有詳細視頻講解哦)，今天先講從“STSTestHead”開始~

NISTS使用培訓系列目錄

①STSTestHead

NISTS是一系列用于半導體特性分析和生產的硬件/軟件產品。NISTS系列由STST1、STST2和STST4組成。T1、T2和T4的主要區別在于它們的尺寸以及它們可容納的18插槽NIPXI機箱的數量(T1-一個PXI機箱;T2-兩個PXI機箱;T4-四個PXI機箱)。本節介紹了T1、T2和T4的I/O和控件。本視頻展示了NISTS輸入和輸出面板及其在測試單元內集成的功能。

②STSOperatorInterface

本章介紹了在STS上運行測試的流程。OI(操作員界面)由多個控件和顯示框組成，它們用于配置測試站、輸入批次信息、執行測試以及查看良率、分bin信息和測試結果。

③TesterAdmins

本章提供了創建可啟動USB驅動器的參考指南以及使用AcronisImage工具加載STS控制器鏡像的過程。由于OI是客戶端高度定制的操作員界面，因此我們還介紹了如何修改工廠的默認STS操作員界面并滿足客戶的特定需求。

④HandlersandProbers

STS可以Softdocking或Harddocking接到分選機和探針測試臺。每種類型的STS都由標準通信接口和Docking接口所組成。NI已與幾乎所有在大多數工廠中發現的常見HandlerandProber對接過。以下視頻介紹了分選機和探針測試臺驅動程序的配置過程，并介紹如何在操作員界面配置模擬分選機。

⑤TesterMaintenance

本章——測試機維護介紹了NISTS系統的常規保養維護和基本操作。NISTS維護軟件是一套軟件工具，使用戶能夠維護、監控、檢修并校準NI半導體測試系統。大多數測試維護操作可以使用NI維護軟件進行。

⑥TestProgramDevelopmentandDebug

本章介紹了STS測試程序架構、TestStand、TestStand半導體模塊(TSM)以及客戶在標準SemiATE平臺期望的其它組件/功能。引腳編程、分bin、DigitalPattern編輯器等相關主題也可在本節中找到。

STSTestHead

NISTS是一系列用于半導體特性分析和生產的硬件/軟件產品。NISTS系列由STST1、STST2和STST4組成。

圖3.STSConfigurations

T1、T2和T4的主要區別在于它們的尺寸以及它們可容納的18插槽NIPXI機箱的數量(T1-一個PXI機箱;T2-兩個PXI機箱;T4-四個PXI機箱)。本節介紹了T1、T2和T4的I/O和控件。