高精度
以2%以下的磁滯可檢測小到0.4mm的高度差別(較之以前提高2.5倍)
相對傳統型號，先進光學系統的檢測性能提高了約2.5倍(CX-441短檢測距離型。約是CX-442長檢測距離型的4倍)。
即便是小到0.4mm的高度差別也可準確檢測出。(檢測距離設定為20mm時)
(CX-441短檢測距離型磁滯:檢測距離的2%以下)
(CX-442長檢測距離型磁滯:檢測距離的5%以下)

不受顏色影響
※黑色和白色之間檢測距離的差在1%以下(較之以前提高1.3倍)
黑色和白色之間檢測距離高度差別的檢測性能相對于以前的型號提高了30%。
可檢測同等距離的黑色和白色物體。
(CX-441短檢測距離型黑色和白色間檢測距離的差:1%以下)
(CX-442長檢測距離型黑色和白色間檢測距離的差:3%以下)
即便在不同顏色物體沿生產線移動時也無需調節器控制。
※黑色和白色無光澤紙的檢測距離區別。(亮度:5)

長距離
300mm的長檢測距離是同類產品之首
檢測距離是傳統傳感器世界標準尺寸的1.5倍。 (CX-442長檢測距離型)