編者按： 美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）致力于為測試測量、自動化和嵌入式應(yīng)用領(lǐng)域的工程師和科學(xué)家們帶來革命性的理念。2008 年2月，NI推出首款基于PXI的源測量單元和業(yè)界最高密度的PXI開關(guān)模塊。 全新高精度直流產(chǎn)品把PXI平臺功能延伸至半導(dǎo)體測試領(lǐng)域 2008 年2月――美國國家儀器有限公司（National Instruments, 簡稱NI）宣布正式發(fā)布其第一款基于PXI的源測量單元（source measure unit，SMU）和業(yè)界最高密度的PXI開關(guān)模塊。這兩款產(chǎn)品將PXI平臺的應(yīng)用延伸至高精密度直流測試領(lǐng)域，如半導(dǎo)體參數(shù)測試及電子設(shè)備器件的驗證。工程師們可以同時使用這兩款模塊在多管腳設(shè)備上掃描電壓和電流的特征參數(shù)，相比傳統(tǒng)的方式，具有輕便小巧、性價比高的優(yōu)點。

NI PXI-4130源測量單元是一款可編程、靈活、高功率且適合高精度直流測試應(yīng)用的3U PXI模塊。其相互隔離的SMU通道，可提供包含4線遙感的四象限±20 V輸出。該通道在象限I和象限III中的源極功率高達40W，在象限II和象限IV中的漏極功率高達10W。NI PXI-4130電源測試單元還有一個額外的電壓、電流輸出/測試通道，并在一個單槽的PXI模塊上實現(xiàn)了電源功能。鑒于共有5個可電流范圍提供達1 nA的測量分辨率，因此PXI-4130非常適用于需要編程實現(xiàn)掃描源（電壓/電流）并且測試其參數(shù)的場合，比如在高精度的測試驗證以及半導(dǎo)體測試領(lǐng)域，。 "很高興看到模擬技術(shù)的發(fā)展和基于FPGA架構(gòu)的應(yīng)用可以實現(xiàn)在如此之小的體積上發(fā)揮出卓越的性能" NI測量技術(shù)總監(jiān)Ken Reindel這樣說道。 "NI PXI-4130源測量單元是一個在高精度、高功率和小體積特性上的典范，讓工程師可以在新的應(yīng)用領(lǐng)域享有PXI平臺帶來的種種優(yōu)勢" 。 NI PXI-2535和NI PXI-2536超高密度模塊可提供544交叉點——可在單槽、3U PXI模塊上實現(xiàn)最大的矩陣密度。NI PXI－2535和NI PXI－2536分別配置為4x136 1線式矩陣和8x68 1線式矩陣。兩款模塊都是建立在場效應(yīng)晶體管（field effect transistor，F(xiàn)ET）技術(shù)之上，該技術(shù)帶來諸多優(yōu)勢，包括：無限機械壽命、無限同步連接以及高達50,000次/秒的切換速度。這些優(yōu)勢使這兩款產(chǎn)品非常適合在批量生產(chǎn)設(shè)備（如：半導(dǎo)體芯片和印刷電路板）的驗證測試中來切換低功率的直流信號。兩款新產(chǎn)品與NI Switch Executive開關(guān)管理軟件同時使用還能幫助工程師們實現(xiàn)的簡化配置和代碼重用。 NI PXI-4130電源測試單元和兩款高密度開關(guān)模塊豐富了現(xiàn)有的PXI儀器平臺，并可幫助工程師們進行半導(dǎo)體原件驗證相關(guān)測試，包括高速數(shù)字設(shè)備、混合信號儀器及射頻設(shè)備。當(dāng)在一個PXI系統(tǒng)中同時使用這些設(shè)備，它們可以提供高度靈活的解決方案，無論是半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)和功能驗證測試還是電子元件特征測試。這3款產(chǎn)品均對NI TestStand測試管理軟件、NI LabVIEW圖形化開發(fā)環(huán)境、NI Signalexpress、NI LabWindows ™/CVI和NI Measurement Studio提供支持。 了解更多NI PXI平臺信息，請訪問：ni.com/china/pxi。