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非接觸式三維測量檢測系統
企業信息
非接觸式三維測量檢測系統基于雙目立體視覺原理，采用外差式多頻相移三維光學測量技術，可測量幾毫米至幾十米的物體，精度可達0.01mm。與傳統的測量方式相比較，系統受環境影響小并且無機械行程限制，尤其適用于復雜的曲面物體。
系統可快速獲取物體表面的點云數據，建立物體1：1：1的三維模型，實現產品的快速三維設計和尺寸提取。測量所得的數據可與標準產品數據或設計圖進行擬合對比，分型物體點線面的形位偏差，實現物體整體及局部檢測，輸出數據報告。
常規標準型
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型號 |
XTOM-TC |
XTOM-ED-I |
XTOM-ED-II |
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測量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
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相機像素 |
2*130w |
2*130w |
4*230w |
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測量精度(mm) |
0.04 |
0.025/0.03 |
0.025~0.03 |
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采樣點距(mm) |
0.15/0.3 |
0.1/0.2 |
0.1~0.2 |
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標準測距(mm) |
350/850 |
450/850 |
450/850 |
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掃描時間(s) |
2~4 |
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掃描光源 |
藍/白 |
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拼接方式 |
標志點/特征/手動 |
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高端工業型
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型號 |
XTOM-ET-I |
XTOM-ET-II |
XTOM-ET-III |
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測量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
800*600 |
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相機像素 |
2*230w |
2*500w |
2*500w |
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測量精度(mm) |
0.02/0.025 |
0.01/0.015 |
0.03 |
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采樣點距(mm) |
0.1/0.2 |
0.08/0.15 |
0.3 |
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標準測距(mm) |
450/850 |
450/850 |
1600 |
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掃描時間(s) |
2~8 |
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掃描光源 |
藍/白 |
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拼接方式 |
標志點/特征/手動 |
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備注：拍照式三維掃描儀抄數機CCD支持升級600萬/900萬，支持依據客戶需求定制。
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