5月10日～12日，一年一度的儀器與測量領域水平最高、影響力最大的國際學術盛會——2011國際儀表與測量技術大會（I2MTC）在杭州龍禧福朋喜來登酒店召開。本屆I2MTC由美國電氣和電子工程師學會（IEEE）儀表與測量協會（I&M Society）主辦，浙江大學承辦，吸引了來自美國、意大利、英國、加拿大等40多個國家和地區的300余名專家和學者參加。中控技術股份公司作為僅有的兩家企業代表之一亮相，中控創始人褚健教授于開幕當天發表主旨演講，介紹了中控在自動化控制系統和現場總線技術等領域的最新科研成果和應用，引起了國內外學者的廣泛關注。
會議集聚了當今儀表與測量技術研究領域的知名專家和學者，與會代表就國際最新的儀表和測量技術、信號處理技術、數據采集技術、傳感器技術等方面進行廣泛的交流和討論，集中體現了未來儀表與測量技術的發展方向。
會議現場，許多專家和學者來到中控展位，觀摩ECS-700 DCS演示箱，并聽取工作人員的講解。他們中有不少人表示對褚健的演講印象深刻，對中控及其產品表現出濃厚的興趣。鑒于此，工作人員組織部分外賓在會議結束之后赴中控參觀，加深了解，促進合作。
本次會議是拓展中控國際化交流與合作的一次重要契機。借助這樣的學術平臺，一方面了解業內技術發展的最新動態，另一方面也促進相互間的科技交流與技術合作，進一步提升中控在測量與測試領域的學術地位和知名度。
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