由北京市自然科學基金資助的第二屆高可靠性嵌入式系統-可靠性預測與驗證國際會議于9月20日-24日（RPAV2010）在首都師范大學北一區國際文化大廈成功舉行。本次會議由首都師范大學、加拿大Concordia University HVG、美國Ridgetop Group INC和高可靠嵌入式系統技術北京市工程研究中心共同主辦，中科院國家天文臺、香港理工大學、北京化工大學、北京漢迪龍科技有限公司協辦。來自中國、美國、加拿大等國家的大學、研究機構以及相關企事業單位的80多名專家學者出席了此次會議。本次會議也是2010年北京市自然科學基金成立二十年系列國際學術交流活動之一。
研究苛刻環境電子系統對國家戰略安全和國民經濟發展均具有重要的意義和迫切的技術需求。本次會議圍繞高可靠性和苛刻環境的應用領域、芯片和電子系統的設計的可信性、硬件設計的形式化驗證方法（包括等價性驗證、模型驗證、理論驗證）、如何科學而準確地預測芯片、電源、電子線路板、電子系統和設備的生命周期、故障可預測性MTTF/MTBF如何實現、技術服務與人才培養等問題進行廣泛而深入的學術交流。
會議為高可靠性嵌入式系統領域專家學者搭建了良好的交流平臺，促進了中美兩國、中加兩國在高可靠嵌入式系統領域的研究與技術合作。
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