目前,ASML的極紫外(EUV)光刻機是制造高端芯片(如7nm及以下節點)的關鍵設備,它負責將極其微小的電路設計“打印”到硅晶圓上。
然而,該董事認為,像環繞柵極場效應晶體管(GAAFET)和互補場效應晶體管(CFET)這樣的新型設計,將顯著增加光刻之后制造步驟(特別是刻蝕技術)的重要性,從而削弱光刻在整體工藝中的主導地位。
芯片制造流程始于光刻——將設計圖案轉移到晶圓表面。隨后通過沉積添加材料,并通過刻蝕選擇性地去除材料,最終形成晶體管和電路結構。
新型晶體管設計的核心在于“包裹”柵極結構(GAAFET)或堆疊晶體管組(CFET)。這種三維結構的復雜性對精確刻蝕提出了更高要求。為了從各個方向“包裹”柵極或創建堆疊結構,芯片制造商需要更精細地、特別是橫向地去除晶圓上的多余材料。
因此,該董事指出,未來的重點可能從單純依賴光刻機縮小特征尺寸,轉向更復雜、更關鍵的刻蝕工藝,以確保這些新型三維晶體管結構的精確成型。這預示著芯片制造技術路線可能迎來重大轉變。