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基于像素分布特性的IC晶片視覺檢測方法

發布時間：2009/3/30 17:04:00

文件類型：rar

資料大小：230.52KB

提供者：中國傳動網

【基于像素分布特性的IC晶片視覺檢測方法】

資料介紹
IC晶片制造過程存在多種致命缺陷,致使芯片失效,導致成品率下降。冗余物缺陷是影響IC晶片成品率下降的重要原因,主要造成電路短路錯誤。

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