時間:2024-12-19 17:21:52來源:OFweek 電子工程網
Part 1
汽車芯片在高溫環境下加速老化的機理
芯片老化是一個涉及多方面物理和化學過程的復雜現象。在微觀層面,主要包括電遷移、熱應力以及介質擊穿等關鍵因素。
● 芯片老化主要源于材料特性在運行中的逐步退化。這種退化包括但不限于:
◎ 電遷移:高溫環境會加速金屬互連中的電子遷移,導致線路中形成空洞或金屬堆積,從而引發開路或短路問題。
◎ 熱膨脹不匹配:芯片封裝內不同材料(如硅、銅、焊點等)因熱膨脹系數不同,在高溫反復作用下會產生機械應力,導致焊點斷裂或封裝層開裂。
◎ 電介質擊穿(TDDB):高溫加速電介質層的退化,使其更容易發生電擊穿,導致芯片失效。
◎ 金屬間化合物脆化:焊點中的金屬間化合物層在高溫環境下逐漸增厚并變得脆弱,從而降低封裝可靠性。
在炎熱氣候下,環境溫度顯著升高。根據阿倫尼烏斯方程,材料的降解速度與溫度呈指數關系。對于汽車芯片而言,高溫環境使得芯片內部的各種物理化學過程加速進行。
以電遷移為例,高溫會增加金屬原子的熱運動能量,使其更容易在電場作用下發生遷移,從而加快電遷移導致的故障產生速度。在長時間處于高溫環境的汽車芯片中,原本可能需要較長時間才會出現的電遷移問題,會因為高溫而提前發生,大大縮短了芯片的使用壽命。
炎熱氣候下不僅存在高溫,還經常伴有溫度波動。溫度波動會加劇熱應力問題。
當芯片在不同溫度之間快速切換時,由于不同材料的熱膨脹和收縮不一致,會產生更大的機械應力。例如,芯片中的封裝材料與芯片核心部分的熱膨脹系數存在差異,溫度波動時,兩者之間的連接部位就會承受反復的拉伸和擠壓應力,容易導致焊點等連接部位變得脆弱甚至斷裂,形成新的潛在故障模式。
智能駕駛導致的算力提升,MCU元件的利用率顯著提高。在炎熱氣候下,汽車芯片本身因環境溫度升高而溫度上升,同時高利用率又進一步增加了芯片的熱量產生。
自動駕駛功能的汽車可能會長時間處于運行狀態,其芯片的工作負載持續處于較高水平,這使得芯片溫度居高不下。
這種高溫與高利用率的協同作用,加速了芯片的老化過程。與正常工作條件下相比,在炎熱氣候且高利用率的情況下,芯片的老化速度可能會成倍增加。
● 簡單來說,高溫作用下:
◎ 芯片的電遷移速率以指數形式增加,互連線失效時間大幅縮短。
◎ 高溫誘發的機械應力在不同封裝材料間累計,導致焊點斷裂風險大幅提高。
◎ 先進制程芯片(如5nm、3nm)因互連線更細、更薄,對熱量和電流的耐受性顯著降低,在高溫下表現尤為脆弱。
◎ 自動駕駛和AI功能進一步提高了芯片占空比(運行時間比例),持續高溫運行使老化速度大幅增加。
目前行業普遍使用阿倫尼烏斯方程來預測芯片的老化過程,高溫、高濕、多振動等復雜環境中的非線性動態相互作用,使預測精度面臨挑戰。這不僅影響芯片的可靠性評估,還增加了實際設計中的安全隱患。
Part 2
應對芯片老化的解決方案
為了應對高溫環境,芯片制造商可以在設計階段選用更耐高溫的材料。例如,對于互連材料,可以研究開發新型的高溫穩定金屬或合金,其具有更高的熔點和更好的抗電遷移性能,能夠在高溫下長時間保持結構穩定。
在絕緣介質方面,尋找具有更高擊穿電壓和熱穩定性的材料,以減少介質擊穿的風險。在芯片設計時預留足夠的裕度,以應對高溫環境下可能出現的性能變化。這包括對芯片的電氣參數、工作頻率等進行合理調整。例如,適當降低芯片的工作頻率,可以減少電流密度,從而降低電遷移的風險。
同時,增加芯片內部電路的冗余設計,但需要注意在先進節點(如 5nm 和 3nm)時,由于電路密度極高,過多的冗余電路可能會影響整體性能,因此需要在冗余和性能之間進行精細平衡。
改善芯片的熱管理結構,提高散熱效率。可以采用更高效的散熱材料,如新型的熱導率高的散熱片或散熱膏,將芯片產生的熱量快速散發出去。
同時,優化芯片內部的熱傳導路徑,例如設計合理的熱通孔布局,使熱量能夠更均勻地分布并快速傳導到散熱部位。
● 芯片制造商已開始在設計中預留更多裕度,應對極端環境的挑戰:
◎ 材料改進:開發更耐高溫的封裝材料和電介質層,例如使用碳化硅(SiC)代替硅基材料。
◎ 增強互連抗性:通過優化互連材料和幾何結構,減緩電遷移對可靠性的影響。
◎ 主動散熱設計:在系統設計中加入熱管理模塊,如引入微型冷卻裝置或高效導熱材料。
利用先進的監測技術,如在芯片中集成傳感器網絡,實時監測芯片的溫度、電流、電壓等關鍵參數。
通過這些監測數據,可以及時發現芯片的性能變化和潛在故障風險。當監測到芯片溫度過高或電流出現異常波動時,可以判斷芯片可能存在老化或故障隱患。
對芯片的工作狀態進行動態調控。一種方式是采用類似中國供應商將人工智能融入芯片的技術,當發現芯片性能下降時,通過智能算法調整芯片的工作頻率、電壓等參數,以延長芯片的使用壽命。例如,如果監測到芯片溫度上升導致性能下降,可以適當降低工作頻率,減少功耗和熱量產生,同時保持芯片的基本功能運行。
建立完善的故障預警和處理機制。當監測系統判斷芯片可能即將出現故障時,及時向車輛控制系統發出預警信號,車輛可以采取相應的措施,如降低車速、切換到安全模式或者提醒駕駛員前往維修站。
同時,在系統設計時,考慮故障轉移電路的優化,確保在部分芯片出現故障時,能夠按照要求將功能安全地轉移到其他系統,并且故障轉移電路本身也要具備高可靠性和抗高溫性能。
● 主動監控技術:通過在芯片內集成傳感器,實時監測溫度、電流、電壓等關鍵參數,預測芯片退化趨勢。
● 預測性維護:基于AI算法分析芯片運行數據,主動調整頻率、電壓或負載分配,延緩芯片老化。
● 冗余設計:為關鍵部件引入備用通道或電路,以在某一組件失效時快速切換,保證系統正常運行。
● 任務配置文件升級:重新評估自動駕駛、AI功能對芯片使用壽命的影響,并據此優化任務配置文件的參數。
● 整車熱管理系統:開發更高效的車內溫控方案,減緩車內環境對電子元器件的影響,例如在電動車中優化電池冷卻和芯片散熱的協同效率。
隨著汽車芯片老化問題的凸顯,行業標準需要進一步完善。如 ISO 26262 標準的下一版本將預測性維護納入其中,強調對硅片數據的監控和彈性管理。
整個行業應積極遵循并推動此類標準的實施,使得汽車芯片的設計、制造和應用都有更明確的規范和要求,促進汽車芯片技術在應對炎熱氣候老化問題上的整體進步。
汽車芯片涉及到芯片制造商、汽車制造商、零部件供應商等多個環節,需要加強產業鏈上下游的合作。
◎ 芯片制造商與汽車制造商應密切合作,根據汽車的實際使用環境和需求,共同研發適合的芯片產品。
◎ 與材料供應商合作,開發新型的耐高溫材料;
◎ 與軟件開發商合作,優化芯片的監測和調控軟件算法。
通過產業鏈的協同合作,整合各方資源,共同攻克汽車芯片在炎熱氣候下老化的難題。
小結
全球氣溫的上升和極端氣候的頻發,對汽車芯片的可靠性提出了前所未有的挑戰。隨著自動駕駛、電氣化和智能化技術的發展,芯片在車載系統中的作用愈發關鍵,炎熱氣候加速芯片老化這一現象表明,現有技術和標準在極端環境下仍存在顯著不足。
芯片設計和制造技術需在性能與可靠性間尋求更好的平衡。從材料創新到預測性維護的應用,再到整車層面的協同優化,行業正在探索多層次的應對策略。
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