時間:2024-01-10 15:38:10來æºï¼šOFweek太陽能光ä¼ç¶²
é›–ç„¶ç›®å‰å…‰ä¼çµ„件的效率在é€å¹´æé«˜ï¼Œä½¿ç”¨å£½å‘½ä¹Ÿé•·é”20-25年,發電é‡å¾—到了ä¿è‰ï¼Œç”¨æˆ¶çš„é æœŸæ”¶ç›Šä¹Ÿéžå¸¸æ¸…晰。
  但是,光ä¼çµ„件的工作環境éžå¸¸æƒ¡åŠ£ï¼Œä¸ç®¡æ˜¯å¤§åž‹åœ°é¢é›»ç«™ï¼Œé‚„æ˜¯è¾²å…‰äº’è£œã€æ¼å…‰äº’補ç‰ä½¿ç”¨å ´æ™¯ï¼Œåœ¨ä½¿ç”¨éŽç¨‹ä¸æœƒè®“效率é™ä½Žï¼Œå¾žè€Œå½±éŸ¿åˆ°ç™¼é›»é‡ã€‚å…¶ä¸ï¼ŒPID效應就是組件的“效率殺手â€ã€‚
  PID效應是電勢誘導衰減(Potential Induced Degradation)的簡稱。形æˆåŽŸå› åœ¨äºŽï¼Œå…‰ä¼çµ„件在使用éŽç¨‹ä¸ï¼Œåœ¨æ°´æ±½å’Œé«˜æº«äº¤æ›¿ä½œç”¨ä¸‹ï¼Œå¾ˆé›£ä¿æŒé•·æ™‚間密å°ã€‚會導致組件內部大é‡é›»è·èšé›†åœ¨é›»æ± 片表é¢ï¼Œå½±éŸ¿éˆåŒ–æ•ˆæžœï¼Œæœ€çµ‚é€ æˆçµ„件效率下é™ï¼Œç™¼é›»é‡ç”šè‡³æœƒä¸‹é™ä¸€åŠä»¥ä¸Šã€‚
  從2005年被發ç¾è‡³ä»Šï¼ŒPID效應一直都是光ä¼ä¼æ¥å’Œç§‘ç ”æ©Ÿæ§‹çš„â€œå¿ƒé 大患â€ã€‚é›–ç„¶å…¶ç™¼ç”ŸåŽŸå› å¹¶ä¸æ˜¯éžå¸¸æ˜Žç¢ºï¼Œä½†æ™®éèªç‚ºåœ¨æ¿•åº¦åŠ å¤§ï¼Œé¹½åº¦è¼ƒå¤§çš„æ²¿æµ·åœ°å€ï¼ŒPID效應較為容易發生。
  在長期的實驗ä¸ï¼Œè¡Œæ¥å…§ä¹Ÿçµ¦å‡ºäº†ä¸€äº›é 防PIDæ•ˆæ‡‰çš„æ–¹æ³•ã€‚ä¸»è¦æ˜¯ä»¥ä¸‹ä¸‰ç¨®ï¼šå¯é‡‡ç”¨ä¸²è¯çµ„ä»¶çš„è² æ¥µæŽ¥åœ°æˆ–æ˜¯åœ¨æ™šé–“å°çµ„ä»¶å’Œå¤§åœ°ä¹‹é–“æ–½åŠ æ£é›»å£“;é€²ä¸€æ¥æé«˜EVAè† è†œçš„å£½å‘½å’Œå“質,優化å°è£å·¥è—;æ”¹è®Šé›»æ± ç‰‡ç™¼å°„æ¥µå’ŒSiN減å層。
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