來自制造商數據的兩個 X7R、0603 尺寸電容器的比較。兩者都假定具有 5V 偏置并在 70 攝氏度下工作。即使其中一個部件的初始電容是兩倍，但在 100,000 小時時的最終結果要接近得多。所有數據均基于制造商的數據表，估計老化 100,000 小時。

　　第一個電容是 1μf, 25V, 0603 尺寸，第二個是 2.2μf, 10V, 0603 尺寸，兩者都假定偏置為 5V，工作溫度為 70 o C。100,000小時的總老化是由于正常老化，加上直流偏置，加上工作溫度，從參考手冊推斷為 -25% 最壞情況。請注意：上面的關鍵詞是“外推”，因為我沒有自己的數據來支持這一點。

　　即使是項的這種線性乘法相加也具有誤導性，因為在任何情況下總和不可能大于可能的 80% 電容下降總和。這是因為當所有的磁偶極子 100% 排列整齊時，材料仍然會有一些剩余的介電常數。因此，這種情況比表 1 所示的簡單的餐巾背面線性計算更為復雜。

　　更有可能的是下面的情況，它僅來自幾家制造商發布的關于直流偏置效應的數據。下面確實顯示了當電介質材料偶極子排列從 0%(完全隨機)增加到 100%(完全排列)時電容器的電容會發生什么變化，這代表了直流偏置、工作溫度和老化的絕對最壞情況結合。通過研究幾家制造商的直流偏置與電容變化曲線繪制了一張圖，并推斷該曲線顯示了可能的電容變化與 X7R 電容器介電材料偶極子排列的關系。0% 是隨機對齊(左側 x 軸)，100% 是當偶極子對齊時(右側 x 軸)，顯示大約 80% 可能的總電容損耗。

　　結論

　　對我來說，這一切的收獲是：

　　1) 在 2017 年的“大電容器短缺”之后，當制造商爭先恐后地滿足訂單和替代品(已知和未知)時，X7R 零件的行為方式讓我遇到了嚴重的問題。我發現 DC 偏壓下的電容下降更嚴重，以及在看似相同的零件編號出現短缺之前和之后生產的電容器批次之間的其他參數問題。

　　這讓我對信任已有數十年歷史的制造商發布的信息持懷疑態度，尤其是在技術變化如此之快的情況下。即使您進行了自己的可靠性研究，您也無法確定下一次電容器短缺何時會再次改變所有配方并使一切化為烏有。

　　2) 關于隨著直流偏置和升高的工作溫度而增加老化率的最新信息似乎表明，在 10 年后，設計人員可能明智地在預期 X7R 電容下降的基礎上再增加 25%，因為老化 + 工作溫度 + 直流偏置老化效應。這是由于容差、溫度系數和 DC 偏壓導致的初始電容下降。

　　3) 這種加速的直流偏置 + 升高的工作溫度電容下降表明，使用高溫、加速壽命測試至少 1000 小時可能有助于了解預期壽命更長的產品的預期真實電容變化。注意：您不能超過 90 o C，以免在測試電容器時使電容器老化。

　　4) 使用低額定電壓，在高工作電壓百分比下運行的高電容 X7R 電容器可能會對開關電源的大容量輸出濾波產生問題，其中電容用于穩定控制回路，特別是如果您必須達到更長的工作時間壽命。在高溫下測試至少 1000 小時，或使用另一種久經考驗的真正電容器技術，如鉭或鋁電解電容器，以滿足您的大容量電容需求。

　　5) 使用低額定電壓、在高工作電壓百分比下運行的高電容 X7R 電容器可能適用于低壓差穩壓器 (LDO) 輸出濾波應用。在這些應用中，可能需要最大串聯電阻值，也許還需要一些最小電容值，但在這些值的相反極端情況下，通常仍會提供穩定的穩壓器。檢查監管機構的數據表進行驗證。

　　6) 由于 X7R 是所有其他 2 類介電電容器中最好的，因此似乎強烈建議 X5R 僅用于多兆赫數字電路上的高頻旁路，其中電容器最重要的方面是串聯電感而不是任何電容值。

　　我查看了制造商發布的兩種常見 0603 尺寸 X7R 電容器類型的電容與直流偏置數據。第一個是常見的 0.1μF、50V，用于去耦，第二個是高密度 1μF、10V 類型。可以看出，每個制造商都有不同的 X7R 電介質配方，并且會根據電容器的額定電壓而變化。當您遇到短缺并選擇其他“等效”零件編號時，請記住這一點，它可能不像您想象的那么等效!