時(shÃ)間:2022-05-12 10:01:41來æºï¼šä¸åœ‹å‚³å‹•(dòng)ç¶²(wÇŽng)
  工控機(jÄ«)çš„è¨(shè)計(jì)和組è£é©åˆå·¥æ¥(yè)應(yÄ«ng)用,并具有久經(jÄ«ng)考驗(yà n)çš„å¯é æ€§ã€‚å…¶ä¸€é«”å¼æ©Ÿ(jÄ«)ç®±è¨(shè)計(jì)和無風(fÄ“ng)扇冷å»å¯ä¿è·(hù)計(jì)算機(jÄ«)å…å—外部碎屑侵入和寬溫環(huán)境的影響。æ¤å¤–,工控機(jÄ«)é‚„å¯ä»¥æä¾›IPç‰ç´šï¼Œä»¥ç¢ºä¿å…¶é˜²æ°´å’Œé˜²å¡µé¡†ç²’。最åŽä½†å¹¶éžæœ€ä¸é‡è¦çš„一點(diÇŽn)是,工控機(jÄ«)æä¾›å»£æ³›çš„輸入/輸出端å£ä»¥æ“´(kuò)展能力,使å‡ç´šå’Œæ›´æ›è¨ˆ(jì)算機(jÄ«)éƒ¨ä»¶è®Šå¾—æ›´åŠ å®¹æ˜“ã€‚
  控機(jÄ«)測試和驗(yà n)è‰éŽç¨‹
  工控機(jÄ«)åˆ¶é€ å•†å¯¦(shÃ)施了全é¢çš„è¨(shè)計(jì)é©—(yà n)è‰éŽç¨‹ï¼Œä»¥ç¢ºä¿å¯é 性。徹底的è¨(shè)計(jì)èª(rèn)è‰éŽç¨‹çš„目的是確ä¿è¨(shè)計(jì)產(chÇŽn)å“çš„è€ç”¨æ€§ã€å¯é 性和壽命。專用測試和è¦(guÄ«)æ ¼æ¸¬é‡åœ¨å¯é 的測試è¨(shè)æ–½ä¸é€²(jìn)行,é…備專用è¨(shè)備,如溫濕度室ã€1500 KGF振動(dòng)測試儀ã€ç†±æ²–擊斜å¡å®¤ã€IR熱傳感器ã€ä¿¡è™Ÿå®Œæ•´æ€§æ¸¬è©¦å„€å’Œé›»æ°£æ¸¬è©¦å„€ã€‚這些測試包括:
  åˆè¦(guÄ«)性測試:é‡å°ECå’ŒFCCèª(rèn)è‰çš„é›»ç£å…¼å®¹æ€§(EMC)測試。
  信號測é‡ï¼šé«˜é€Ÿå¤–åœè¨(shè)å‚™çš„ä¿¡è™Ÿå®Œæ•´æ€§ï¼Œä»¥ç¢ºä¿æœ€ä½³è¨(shè)計(jì)屬性。
  壓力測試:在超出æ£å¸¸æ¨™(biÄo)準(zhÇ”n)或é”(dá)到最大è¦(guÄ«)æ ¼çš„æƒ…æ³ä¸‹è§€å¯Ÿçµ(jié)果。
  功能測試:基本I/O功能測試ã€é–‹æ©Ÿ(jÄ«)æ¸¬è©¦ã€æ“作系統(tÇ’ng)ã€é›»æºä¿è·(hù)ã€åŠŸè€—ã€æ€§èƒ½æ¸¬è©¦ã€æ»¿è¼‰æ¸¬è©¦ã€‚
  BIOSè¨(shè)置測試:確ä¿ç³»çµ±(tÇ’ng)æ£ç¢ºæª¢æ¸¬ã€é…ç½®è¨(shè)置并åˆå§‹åŒ–所有功能和è¨(shè)備。
  兼容性測試:確ä¿CPUã€DIMMã€é¡¯å¡å’Œå…¶ä»–外åœè¨(shè)備與系統(tÇ’ng)兼容。
  環(huán)境測試:熱測試包括四個(gè)è§’ã€é‹(yùn)行和éžé‹(yùn)行ã€é–‹æ©Ÿ(jÄ«)æ¸¬è©¦ã€æ²–擊和振動(dòng)測試ã€IPç‰ç´šå¯†å°å’Œç†±æ²–擊測試。
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