時間:2021-08-06 15:48:17來æºï¼šæŽæ›‰è¼ 辛瑋
 1 方案背景
  電åä¿¡æ¯çš„發展迅速的今天,電容ã€é›»é˜»å·²ç™¼å±•æˆé«˜å“質ã€å°é«”ç©ã€å¤§æ•¸é‡çš„é—œéµé›¶éƒ¨ä»¶ï¼Œç¾æœ‰é›»é˜»ã€é›»å®¹å–®ç²’外形是矩形, 共有å…é¢å¤–è§€ , ç¾æœ‰å¤–觀瑕疵檢測技術都是分開檢測å…é¢å¤–觀的缺陷,å³å…é¢å¤–è§€å„æœ‰ä¸ç”¨ï¼Œåˆ†æˆä¸åŒç®—法來解決。由于傳統的 AI 算法大多基于googel çš„tensorflow 架構,å 用顯å˜å¤§ï¼Œ 一方é¢å¢žåŠ äº†ä»¥é¡¯å¡ç‚ºä¸»çš„ç¡¬ä»¶æˆæœ¬ï¼Œå¦ä¸€æ–¹é¢ä¹Ÿæœƒå½±éŸ¿é‹ç®—速度。
  基于以上痛點,微視公å¸è‡ªä¸»é–‹ç™¼çš„ AI 軟件,基于底層優化多線程ã€å¤šè¨“練模型的并行é‹ç®—ï¼Œä»¥ç¾æœ‰çš„ NVDIA 2080TI 的顯å¡ç‚ºä¾‹ï¼Œå¯ä»¥å¯¦ç¾20000pcs/min 的峰值è˜åˆ¥é€Ÿåº¦ï¼Œ ä¸åƒ…æ¸›å°‘äº†ç¡¬ä»¶é‡‡è³¼æˆæœ¬ï¼Œé‚„æé«˜äº†è¨å‚™çš„使用率。
  2 技術詳解
  2.1 æ ¸å¿ƒæŠ€è¡“
  (1) 底層算法基于自有的 TeAiFrame 深度å¸ç¿’框架,çµåˆé€šä¿—易懂的æ“作 UI,幫助用戶實ç¾ç„¡ç·¨ç¨‹çš„ AI æ‡‰ç”¨é«”é©—ã€‚å…¶ä¸ TeAiFrame 為 C++ å¯¦ç¾ AI 框架,é‡å°å·¥æ¥æ‡‰ç”¨å ´æ™¯å°é«˜æ€§èƒ½ã€ä½ŽåŠŸè€—ã€å¿«é€Ÿå»ºæ¨¡ç‰éœ€æ±‚,自 2013 年發布以來,經éŽä¸æ–·è¿ä»£å„ªåŒ–,相較于æµè¡Œçš„幾款åå¸è¡“çš„ AI 框架,TeAiFrame å…·æœ‰é¡¯è‘—çš„å·¥æ¥æ‡‰ç”¨è½åœ°å„ªå‹¢ã€‚
  (2) 得益于完全自主知è˜ç”¢æ¬Šçš„ TeAiFrame 框架,AI 諦創é‹è¡Œç«¯è»Ÿä»¶å¯ä»¥é‹è¡ŒäºŽä¸»æµçš„æ“ä½œç³»çµ±ï¼ŒåŒ…æ‹¬ windows ã€ä¸»æµ Linuxã€Mac OSã€Androidã€IOS ç‰ã€‚å°äºŽç¡¬ä»¶ï¼Œé‹è¡Œç«¯é™¤å¯é‹è¡ŒäºŽå¸¸ç”¨çš„ GPU å¤–ï¼Œä¹Ÿæ”¯æŒ CPUã€åµŒå…¥å¼èŠ¯ç‰‡ç‰ç¡¬ä»¶ç’°å¢ƒã€‚
å¾®è¦–åœ–åƒ AIDitron3.0 實時缺陷檢測分æžã€€
  (3) 以å…é¢å¤–觀檢測解決方案為例,é‡å°å·¥æ¥ä¸é«˜é€Ÿç¼ºé™·æª¢æ¸¬éœ€æ±‚,AI 諦創 3.0(AiDitron3.0)é«˜æ€§èƒ½ç‰ˆï¼Œé‡‡ç”¨æµæ°´ç·šä»¥åŠæ‰¹è™•ç†æŠ€è¡“ï¼Œè™•ç†é€Ÿåº¦å¯ä»¥é”到 20000pcs/min。
  (4) AI 諦創 3.0(AiDitron3.0)å¼·å¤§çš„ç®—åæ•´åˆå¹³è‡ºï¼Œè«¦å‰µçµåˆæ·±åº¦å¸ç¿’和傳統算法å„自的優勢,æŒçºŒä¸æ–·åœ°é›†æˆå„ªè³ªç®—ååˆ°å¹³è‡ºä¸Šï¼Œä»¥æ»¿è¶³å®¢æˆ¶å°æ¸¬é‡ï¼ŒåŒ¹é…ç‰å‚³çµ±æ‡‰ç”¨çš„需求。
  3 產å“介紹
  3.1 人工智能軟件 AiDitron 3.0
  微視圖åƒäººå·¥æ™ºèƒ½åœ˜éšŠç ”發出的 AI äººå·¥æ™ºèƒ½è»Ÿä»¶å®šä½æœå‹™äºŽè‡ªå‹•化生產線,å¯å¯¦ç¾å„類外觀檢測,OCR è˜åˆ¥ï¼Œå®šä½ï¼Œ 分類篩é¸ä»¥åŠå‚³çµ±ç®—法的測é‡ã€åŒ¹é…ç‰åŠŸèƒ½ã€‚æœ¬è»Ÿä»¶åŸºäºŽç¥žç¶“ç¶²çµ¡é–‹ç™¼ï¼Œæ“作方便,準確度高,å³ä¾¿æ˜¯é›¶ç·¨ç¨‹åŸºç¤Žçš„開發人員也å¯è¼•æ¾ä¸Šæ‰‹æ“作。
  (1) AiDitron æ˜¯é¦–æ¬¾åœ‹å…§è‡ªä¸»ç ”ç™¼çš„ AI 軟件,也是目å‰åœ‹å…§å°‘有的一款æˆç†Ÿç©©å®šçš„工具化深度å¸ç¿’è»Ÿä»¶ï¼Œå·¥å…·åŒ–ã€æ¨¡å¡ŠåŒ–,æ“作簡單,使用和ç¶è·æˆæœ¬ä½Žã€‚在本方案的應用ä¸ï¼Œå‰ç«¯å·¥æ¥ç›¸æ©Ÿæ•ç²åœ–åƒï¼Œå€ŸåŠ© AiDitron3.0 é«˜é€Ÿç¼ºé™·åˆ†æžæª¢æ¸¬è»Ÿä»¶ï¼Œ 通éŽåŠ è¼‰é 先訓練的缺陷模型å°é‡‡é›†åœ–åƒé€²è¡Œå¯¦æ™‚超高速缺陷判斷并標注。
  (2) 和常è¦çš„ AI 訓練éŽç¨‹é¡žä¼¼ï¼ŒAiDitron 3.0 ç¼ºé™·æª¢æ¸¬ä¹Ÿéœ€è¦æœ‰æ¨™æ³¨ -> 訓練 -> é©—è‰çš„éŽç¨‹ã€‚AiDitron3.0 充分利用GPU 集群完æˆé«˜æ•ˆåœ–åƒè¨“練,訓練éŽç¨‹å®Œç•¢åŽ AiDitron3.0 åŠ è¼‰è¨“ç·´æ¨¡åž‹ï¼ŒåŒæ¨£åˆ©ç”¨ GPU 集群的超高計算性能完æˆå¤šä»»å‹™çš„并行計算,目å‰åŸºäºŽå–®é¡¯å¡(以 NVDIA 2080TI 為例)在實際測試ä¸å 用ä¸åˆ° 3 個 G 顯å˜çš„剿䏋å³å¯¦ç¾äº† 20000pcs/ min å“越的檢測效率。
  (3) AiDitron3.0 æ“æœ‰ç›¸æ©Ÿé‡‡é›†ç¯€é»žï¼Œä»¥åŠé‹å‹•控制節點功能。
  (4) é‡å°ç¼ºé™·åœ–片收集困難的å•題,AiDitron3.0 會在深度å¸ç¿’節點集æˆç¼ºé™·ä»¿çœŸç’°å¢ƒã€‚
  (5) 深度å¸ç¿’節點,é‡å°ä½¿ç”¨è€…在標注 GT 時,å¯èƒ½å‡ºç¾çš„èª¤æ¨™è¨˜ã€æ¼æ¨™è¨˜ï¼ŒAiDitron3.0 具備智能æé†’系統。
  2.AiDitron3.0 人工智能軟件算法處ç†ï¼Œå…¶å„ªå‹¢åŠå‰µæ–°é»žåŒ…å«å¹¾å¤§æ–¹é¢ï¼š
  (1) 功能齊全:涵蓋了工æ¥é ˜åŸŸå¸¸è¦‹çš„難點å•題:外觀檢測ã€OCR è˜åˆ¥ã€ç›®æ¨™å®šä½èˆ‡åˆ†é¡žç¯©é¸ä»¥åŠæ¸¬é‡ã€åŒ¹é…。
  (2) è‡ªä¸»ç ”ç™¼ï¼šå®Œå…¨è‡ªä¸»ç ”ç™¼çš„ç¥žç¶“ç¶²çµ¡ï¼Œæ”¯æŒæ·±åº¦å®šåˆ¶ï¼Œ 國內æˆç†Ÿçš„工具型 AI。
  (3) 定ä½å°ˆæ¥ï¼šå°ˆæ³¨äºŽæ©Ÿå™¨è¦–è¦ºæ‡‰ç”¨é ˜åŸŸï¼Œç¾å ´å·¥ç¨‹å¯¦æ–½é«˜æ•ˆå¯é 。
  (4) 簡單準確:æ“ä½œç°¡å–®ã€æº–確度高,相比傳統圖åƒç®—法, 這套軟件è¨è¨ˆç‚ºå·¥å…·åŒ–ã€æ¨¡å¡ŠåŒ–,æ“作也更為方便,å³ä¾¿æ˜¯æ²’有編程經驗的開發人員也å¯è¼•æ¾ä¸Šæ‰‹ã€‚
  (5) 兼容傳統算法:超越了傳統 AI 軟件由于自身架構局é™ï¼Œ ä¸å…¼å®¹å‚³çµ±ç®—法的缺陷。
  (6) æ·±åº¦å„ªåŒ–ï¼šå¯¦ç¾ 20000PCS/min 超高檢測速度。
  4 æˆæžœç¸½çµ
ã€€ã€€çœ¾æ‰€å‘¨çŸ¥ï¼Œç”±äºŽç‰¹æ®Šé ˜åŸŸæœƒç”¨åˆ°é¡¯å¡ï¼Œå°Žè‡´é¡¯å¡çš„åƒ¹æ ¼ä¸€ç›´æ˜¯æ°´æ¼²èˆ¹é«˜ï¼Œç‰¹åˆ¥æ˜¯é¡¯å¡é¡¯å˜è¶Šå¤§ï¼Œå…¶æˆæœ¬ä¸Šå‡æ˜Žé¡¯ã€‚在客戶ç¾å ´çš„å¯¦éš›æ¸¬è©¦æ•ˆæžœè‰æ˜Žï¼Œåœ¨ç›¸åŒç”¢èƒ½ä¸‹ï¼Œä¸ä½†çµ¦å®¢æˆ¶é™ä½Žäº†ç¡¬ä»¶çš„é‡‡è³¼æˆæœ¬ï¼Œè€Œä¸”在è¨å‚™ç¡¬ä»¶ä¸æ”¹è®Šçš„å‰æä¸‹ç‚ºå®¢æˆ¶å…¼å®¹æ›´å¤šçš„ç”¢å“類型打下基礎。
ã€€ã€€å› ç‚ºèžå…¥äº†å‚³çµ±ç®—法,é¢å°ä¸€äº›å°ç´” AI å ´æ™¯ä¸å¤ªå‹å¥½çš„æª¢æ¸¬ç’°å¢ƒæ™‚,AiDitron 3.0 軟件å而æˆç‚ºäº†æœ€ä½³çš„鏿“‡ã€‚
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