時間:2016-09-08 10:51:18來æºï¼šç¶²çµ¡è½‰è¼‰
é›»çºœç·šè·¯çš„éš±è”½æ€§åŠæ¸¬è©¦è¨å‚™çš„局陿€§ï¼Œä½¿é›»çºœæ•…障的查找éžå¸¸å›°é›£ã€‚本文è¨è¨ˆäº†ä¸€ç¨®ä»¥åµŒå…¥å¼å¾®è™•ç†å™¨Niosç‚ºæ ¸å¿ƒçš„é›»çºœæ•…éšœæª¢æ¸¬å„€ï¼Œæ‡‰ç”¨A/D器件和FPGA組æˆå¯è®Šé »çŽ‡çš„é«˜é€Ÿæ•¸æ“šé‡‡é›†ç³»çµ±ï¼Œåˆ©ç”¨ä½Žå£“è„ˆæ²–å射法原ç†ä¾†å¯¦ç¾ç·šçºœçš„æ–·è·¯ã€çŸè·¯ã€æ–·è·¯é»žã€çŸè·¯é»žçš„æª¢æ¸¬èˆ‡å®šä½ã€‚該儀器å¯å»£æ³›æ‡‰ç”¨äºŽé€šä¿¡ç¶è·ã€å·¥ç¨‹æ–½å·¥å’Œç¶œåˆå¸ƒç·šï¼Œå°å¸‚話電纜ã€åŒè»¸é›»çºœç‰å„種線纜進行測試和障礙ç¶è·ã€‚
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1ã€ç³»çµ±ç¸½é«”çµæ§‹
利用低壓脈沖å射法檢測電纜故障。主è¦åŽŸç†æ˜¯ï¼šå‘電纜發é€ä¸€å€‹é›»å£“脈沖,當發射脈沖在傳輸線上é‡åˆ°æ•…障時,由于故障點阻抗ä¸åŒ¹é…,產生åå‘脈沖,通éŽè¨ˆç®—二者的時間差△T,并分æžå射脈沖的特性來進行故障的定性與定ä½ã€‚該方法é©ç”¨äºŽæ–·ç·šã€æŽ¥è§¸ä¸è‰¯ã€ä½Žé›»é˜»æˆ–çŸè·¯æ•…障的測試。
故障點è·é›¢L為:L=V·â–³T/2。å¼ä¸ï¼ŒV是脈沖在電纜ä¸çš„傳æ’é€Ÿåº¦ã€‚æ ¹æ“šåå‘脈沖的極性å¯åˆ¤æ–·æ•…障性質:斷線或接觸ä¸è‰¯å¼•èµ·çš„åå‘脈沖為æ£ï¼Œä½Žé›»é˜»æˆ–çŸè·¯æ•…障引起的åå‘è„ˆæ²–ç‚ºè² ã€‚
該儀器是一個便攜å¼é›»çºœæ•…障檢測è¨å‚™ï¼Œå¯åˆ©ç”¨ç¾ä»£é›»å技術(如高速A/D技術ã€ç•°æ¥FIFO技術ã€ç¾å ´å¯ç·¨ç¨‹é‚輯陣列FPGAç‰)來æé«˜é›†æˆåº¦å’Œéˆæ´»æ€§ã€‚ç³»çµ±ç¸½é«”çµæ§‹å¦‚圖1所示。
脈沖發生電路產生探測脈沖,高速的A/D轉æ›å™¨å°è„ˆæ²–åŠå…¶å射回波信號進行采樣,使用異æ¥FIFO作為A/D采樣數據的緩å˜ã€‚è»Ÿæ ¸Niosä½œç‚ºç³»çµ±æ ¸å¿ƒï¼ŒæŽ§åˆ¶æª¢æ¸¬ä»»å‹™çš„å•Ÿå‹•å’ŒçµæŸã€è„ˆæ²–ç™¼é€æŽ¥æ”¶æ¨¡å¼çš„鏿“‡ã€A/D采樣數據的處ç†è¨ˆç®—ã€æ•…障性質和ä½ç½®çš„判斷åŠé¡¯ç¤ºç‰ã€‚å…¶ä¸ï¼Œè»Ÿæ ¸è™•ç†å™¨å’Œé‚輯功能都是在ç¾å ´å¯ç·¨ç¨‹é‚輯器件ä¸ç·¨ç¨‹å¯¦ç¾çš„。
2ã€åŠŸèƒ½åŠæ€§èƒ½æŒ‡æ¨™
çŸè·¯æ¸¬è©¦ï¼šæª¢æ¸¬é›»çºœèŠ¯ç·šä¹‹é–“æ˜¯å¦æœ‰ä¸å¿…è¦çš„連接åŠå…¶ä½ç½®ã€‚
æ–·è·¯æ¸¬è©¦ï¼šæª¢æ¸¬é›»çºœä¸æŸèŠ¯ç·šæ˜¯å¦æ–·è·¯åŠå…¶ä½ç½®ã€‚
é¡¯ç¤ºï¼šé¡¯ç¤ºæ¸¬è©¦çµæžœï¼Œå³æ¸¬é‡ä¸é–‹è·¯åŠçŸè·¯çš„ä½ç½®ã€‚
測é‡èŒƒåœï¼š2~1000m。
測試精度:å¯é¸æ“‡2må’Œ10m兩種精度。
è„ˆæ²–æŒ¯å¹…ï¼šè² è¼‰é–‹è·¯5V。
脈沖寬度:20ns,100ns。
最大采樣速率:100MHz。
波形記錄長度:1024點。
3ã€ç¡¬ä»¶è¨è¨ˆ
以Alteraå…¬å¸çš„CyeloneII系列FPGA器件EP2C20ç‚ºæ ¸å¿ƒï¼Œåˆ©ç”¨å…¶Niosè»Ÿæ ¸åŠŸèƒ½è¨è¨ˆäº†å¾®è™•ç†å™¨ï¼Œå¹¶å®Œæˆäº†ç›¸é—œé›»è·¯çš„è¨è¨ˆã€‚通éŽç·¨ç¨‹FPGA器件定制脈沖發生ã€é«˜é€Ÿæ™‚é˜ä»¥åŠé«˜é€Ÿæ•¸æ“šå˜å„²FIFOç‰æ¨¡å¡Šï¼Œä»¥æ¤ç‚ºåŸºç¤Žè¨è¨ˆäº†è„ˆæ²–發é€å’ŒæŽ¥æ”¶é›»è·¯ä»¥åŠé«˜é€Ÿæ•¸æ“šé‡‡é›†å’Œè™•ç†é›»è·¯ã€‚
3.1微處ç†å™¨ç³»çµ±
簡單來說,Nios是一種處ç†å™¨çš„IPæ ¸ï¼Œè¨è¨ˆè€…å¯ä»¥å°‡å®ƒæ”¾åˆ°FPGAä¸ã€‚Niosè»Ÿæ ¸è™•ç†å™¨æ˜¯ä¸€ç¨®åŸºå¹²æµæ°´ç·šçš„精簡指令集通用微處ç†å™¨ï¼Œæ™‚é˜ä¿¡è™Ÿé »çŽ‡æœ€é«˜å¯é”75MHz。采用Flash來å˜å„²å•Ÿå‹•代碼和應用程åºï¼Œç•¶ç³»çµ±å¾©ä½æˆ–åŠ é›»å•Ÿå‹•æ™‚ï¼ŒFlashä¸çš„啟動代碼將被執行。采用SDRAMå˜å„²æ‡‰ç”¨ç¨‹åºçš„å¯åŸ·è¡Œä»£ç¢¼å’Œæ•¸æ“šï¼Œç‚ºç¨‹åºæä¾›é‹è¡Œç©ºé–“。Niosè»Ÿæ ¸èˆ‡Flashå’ŒSDRAM的連接在FPGAä¸çš„è¨è¨ˆå¦‚圖2所示。
3.2探測脈沖的產生
故障檢測所用脈沖信號的寬度為20~100ns,FPGA的工作時é˜å¯ä»¥é”到200MHz,在其ä¸ç”Ÿæˆæ¸›æ³•計數器å¯ç”¢ç”Ÿæ»¿è¶³è„ˆå¯¬è¦æ±‚的脈沖信號。減法計數器產生脈沖的幅度å—é™äºŽFPGAçš„å·¥ä½œé›»å¹³ï¼Œå°æª¢æ¸¬ä¾†èªªæ˜¯ä¸å¤ çš„ï¼Œå› æ¤å¾žFPGAä¸å‡ºä¾†çš„æ–¹æ³¢è„ˆæ²–é‚„è¦ç¶“éŽæ”¾å¤§ï¼Œæ‰å¯ä»¥è€¦åˆåˆ°è¢«æª¢æ¸¬ç·šçºœä¸åŽ»ã€‚SN74LVC4245A用作電平轉æ›ã€‚staå’Œpulse_inputå‡ä¾†è‡ªFPGA。本è¨è¨ˆé‡‡ç”¨çš„æ˜¯5V脈沖幅度,脈沖的饋é€é‡‡å–了晶體管射極驅動的方å¼ã€‚é€™ç¨®é©…å‹•æ–¹å¼æ¯”較簡單,é©ç”¨çš„器件也比較多。
3.3A/D轉æ›é›»è·¯
檢測脈沖的寬度為20~100ns,相應的數據采樣率在20MHzå’Œ100MHz之間變化,一般的A/DèŠ¯ç‰‡å¾ˆé›£æ»¿è¶³é‡‡æ¨£çš„è¦æ±‚,而用多片A/DèŠ¯ç‰‡åœ¨æˆæœ¬å’Œè¨è¨ˆä¸Šéƒ½æ¯”較困難。這里é¸ç”¨ç¾Žåœ‹NSå…¬å¸çš„ADC08100,其采樣速率為20~100Mspsï¼Œæ¤æ™‚采樣的功耗為1.3mW/Msps,采樣的功耗會隨著采樣時é˜å¢žåŠ è€Œå¢žåŠ ï¼Œä½†æ˜¯é‡‡æ¨£çš„ç‰¹æ€§ä¸æœƒå—åˆ°å½±éŸ¿ï¼Œå› æ¤åœ¨é‡‡æ¨£çŽ‡å¤šæ¨£çš„ç³»çµ±ä¸ä¸€å€‹èŠ¯ç‰‡å¯ä»¥èµ·åˆ°å¤šå€‹èŠ¯ç‰‡çš„ä½œç”¨ã€‚æ ¹æ“šé‡‡æ¨£é€ŸçŽ‡çš„ä¸åŒï¼Œé€šéŽä¸€å€‹æ™‚é˜æŽ§åˆ¶æ¨¡å¡Šç”¢ç”Ÿç›¸æ‡‰çš„é‡‡æ¨£æ™‚é˜ä¿¡è™Ÿï¼Œä½¿èŠ¯ç‰‡å·¥ä½œåœ¨æ‰€è¦æ±‚的速率之下,既å¯ä»¥ç¯€ç´„æˆæœ¬ï¼Œåˆå¯ä»¥ç°¡åŒ–è¨è¨ˆã€‚ADC08100å’ŒFPGAé…åˆä½¿ç”¨ï¼Œå¯ä»¥æ–¹ä¾¿åœ°æ”¹è®Šé‡‡æ¨£æ™‚é˜ï¼Œå…·æœ‰å¾ˆå¤§çš„éˆæ´»æ€§ã€‚
A/D轉æ›é›»è·¯å¦‚圖3所示。探測脈沖åŠå›žæ³¢ä¿¡è™Ÿéœ€è¦è½‰æ›æˆé©åˆA/D芯片電壓水平的信號åŽå†é€²è¡Œé‡‡æ¨£ã€‚脈沖在輸入é‹ç®—放大器之å‰é€²è¡Œäº†é‰—ä½è™•ç†ï¼Œé‡‡ç”¨å…©çµ„倒置的二極管并è¯ï¼Œé¿å…脈沖éŽé«˜è€Œæ“Šç©¿é‹ç®—放大器。
圖3A/D轉æ›é›»è·¯
3.4時é˜ä¿¡è™Ÿçš„產生
檢測脈沖的產生ã€ADC08100的采樣,以åŠç•°æ¥FIFOçš„æ•¸æ“šç·©å˜æ§‹æˆäº†ä¸€å€‹é«˜é€ŸA/D數據采集系統。這å°äºŽå„種信號的時間é…åˆè¦æ±‚很高,需è¦å°ˆé–€çš„æ™‚é˜å–®å…ƒä¾†é…åˆï¼Œä»¥ä½¿é›»è·¯å·¥ä½œåœ¨æ£ç¢ºçš„æ™‚åºä¹‹ä¸‹ã€‚在FPGAä¸å¯æ–¹ä¾¿åœ°å®šåˆ¶æ™‚é˜æ¨¡å¡Šä¾†ç”¢ç”ŸA/D采樣時é˜ã€ç•°æ¥å˜å„²å™¨çš„讀寫時é˜ï¼Œä»¥åŠè„ˆæ²–發生模塊的計數時é˜ã€‚所有的時é˜éƒ½æ˜¯ç”±ä¸€å€‹é«˜é€Ÿçš„æ™‚é˜ä¾†å¯¦ç¾åŒæ¥çš„,并且整個系統是在åŒä¸€å€‹å•Ÿå‹•ä¿¡è™Ÿä¸‹åŒæ¥é‹è¡Œçš„,從而ä¿è‰äº†é‡‡æ¨£çš„æ™‚åºè¦æ±‚。
3.5é›»æºæ¨¡å¡Š
ç³»çµ±ä¸æ—¢æœ‰æ¨¡æ“¬é›»è·¯åˆæœ‰é«˜é€Ÿæ•¸å—電路,使用電æºç¨®é¡žå¾©é›œï¼Œå˜åœ¨+5Vã€+3.3Vã€+1.2Vã€-5Vç‰å¤šç¨®é›»æºä¿¡è™Ÿã€‚在電路æ¿è¨è¨ˆåˆ¶ä½œä¸æ—¢è¦æ¸›å°é«˜é »æ•¸å—ä¿¡è™Ÿå°æ¨¡æ“¬ä¿¡è™Ÿçš„é›»ç£å¹²æ“¾ï¼Œåˆè¦é¿å…å„種電æºä¹‹é–“çš„å¹²æ“¾ï¼Œå› æ¤éœ€åˆç†è¦åŠƒæ¨¡å¡Šå¸ƒå±€åŠå¸ƒç·šèµ°å‘以æé«˜ä¿¡è™Ÿç©©å®šæ€§ã€‚
4ã€è»Ÿä»¶è¨è¨ˆ
軟件è¨è¨ˆä¸»è¦åŒ…括FPGAçš„é–‹ç™¼æ‡‰ç”¨ã€æ‡‰ç”¨ç¨‹åºè¨è¨ˆä»¥åŠæ¶²æ™¶é¡¯ç¤ºå™¨çš„驅動程åºè¨è¨ˆç‰ã€‚
4.1FPGA開發應用
ç¾å ´å¯ç·¨ç¨‹é‚輯器件FPGA(FieldProgrammingGateArray)具有高密度ã€é«˜é€Ÿåº¦ã€ä½ŽåŠŸè€—ã€åŠŸèƒ½å¼·å¤§ç‰ç‰¹é»žã€‚在æ¤ç³»çµ±ä¸é‡‡ç”¨äº†Alteraå…¬å¸çš„CycloneII系列器件來實ç¾é«˜é€Ÿçš„æ•¸æ“šé‡‡é›†ã€å˜å„²åŠŸèƒ½ï¼Œæ˜¯åœ¨QuartuslI7.1軟件ä¸ä½¿ç”¨ç¡¬ä»¶æè¿°èªžè¨€VHDL來è¨è¨ˆå®Œæˆçš„。高密度å¯ç·¨ç¨‹é‚輯器件的è¨è¨ˆæµç¨‹åŒ…括:è¨è¨ˆæº–å‚™ã€è¨è¨ˆè¼¸å…¥ã€è¨è¨ˆè™•ç†å’Œå™¨ä»¶ç·¨ç¨‹4個æ¥é©Ÿï¼Œä»¥åŠç›¸æ‡‰çš„功能仿真(å‰ä»¿çœŸ)ã€æ™‚åºä»¿çœŸ(åŽä»¿çœŸ)和器件測試3個è¨è¨ˆé©—è‰éŽç¨‹ã€‚
本è¨è¨ˆä¸ï¼Œä¸»è¦åŒ…括Nios微處ç†å™¨ã€è„ˆæ²–發生ã€é«˜é€Ÿæ™‚é˜ä»¥åŠé«˜é€Ÿæ•¸æ“šå˜å„²FIFOç‰æ¨¡å¡Šçš„è¨è¨ˆã€‚
4.2應用程åºè¨è¨ˆ
æ‡‰ç”¨ç¨‹åºæŽ§åˆ¶æª¢æ¸¬ä»»å‹™çš„å•Ÿå‹•å’ŒçµæŸã€è„ˆæ²–ç™¼é€æŽ¥æ”¶æ¨¡å¼çš„鏿“‡ã€A/D采樣數據的處ç†è¨ˆç®—ã€æ•…障性質和ä½ç½®çš„判斷以åŠçµæžœè¼¸å‡ºç‰ã€‚
5ã€çµèªž
本文æå‡ºäº†åŸºäºŽNiosè»Ÿæ ¸çš„é›»çºœæ•…éšœæª¢æ¸¬å„€è¨è¨ˆæ–¹æ¡ˆã€‚å°äºŽè„ˆæ²–å射法檢測故障的具體實ç¾ï¼Œæå‡ºäº†åŸºäºŽç¾å ´å¯ç·¨ç¨‹é‚輯器件的高速采樣系統的è¨è¨ˆæ€è·¯ï¼Œå¹¶åœ¨æ¤åŸºç¤Žä¸Šå°ç³»çµ±é€²è¡Œäº†å…¨é¢çš„è¨è¨ˆã€‚ä»¿çœŸå’Œè©¦é©—çµæžœè¡¨æ˜Žï¼Œè©²ç³»çµ±èƒ½å¤ 實ç¾å°é›»çºœçš„æ–·è·¯ã€çŸè·¯ç‰æ•…éšœçš„æª¢æ¸¬ï¼Œå…·æœ‰åœ¨ç·šç›£æ¸¬ã€æ˜“于控制的優點,以åŠéˆæ´»å’Œè‰¯å¥½çš„æ“´å±•功能。北京æ’瑞鑫é”科技有é™å…¬å¸ã€‚
æ›´å¤šè³‡è¨Šè«‹é—œæ³¨å„€å™¨å„€è¡¨é »é“
標簽:
ä¸Šä¸€ç¯‡ï¼šé›»çºœæ•…éšœçš„åŽŸå› åŠæ‡‰å°æŽªæ–½
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