1  Debug原理 概述

Debug是通過芯片內置的硬件模塊記錄處理器做的事情，然后把相關的信息送出到外面的調試器供使用者查看、分析的過程。常見的ARM  Debug接口有JTAG、ETM、SWD；常見的調試工具有Trace32，J-Link等。

 1.1  JTAG

JTAG是一種國際標準測試協議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內部測試。現今多數的高級器件都支持JTAG協議,如DSP、FPGA、ARM、部分單片機器件等。標準的JTAG接口是4線：

TCK為測試時鐘輸入；

TDI為測試數據輸入，數據通過TDI引腳輸入JTAG接口；

TDO為測試數據輸出，數據通過TDO引腳從JTAG接口輸出；

TMS為測試模式選擇，TMS用來設置JTAG接口處于某種特定的測試模式；TRST為測試復位，輸入引腳，低電平有效。

 1.2  ETM

ETM，嵌入式跟蹤宏單元。

由于微控制器帶有大量的片內存儲器，因此不能簡單地通過觀察外部管腳來確定處理器核是如何運行的。ETM對深嵌入處理器內核提供了實時跟蹤能力。它向一個跟蹤端口輸出處理器執行的信息。軟件調試器允許使用JTAG接口對ETM進行配置并以用戶易于理解的格式顯示捕獲到的跟蹤信息。ETM直接連接到ARM內核而不是主AMBA 系統總線。

1.3  SWD

SWD，串行總線調試技術。它提供了兩條串行數據線：

SWCLK：串行時鐘，外部調試器給出；

SWDIO：串行雙向數據線。

通過SWDIO和SWCLK，SWD提供了高性能的串行調試接口，與JTAG和ETM相比，SWD占用更少的IO資源。

 1.4  EFM32家族內置的調試接口

ZG系列只有SWD接口；TG，G，除了SWD以外增加SWO接口；LG，GG和WG既有SWD接口又有ETM接口。

 2  EFM32 Demo板調試外部MCU的方法

2.1  Demo調試接口原理圖

如上圖所示，板載MCU和外部Debug接口通過多路單刀單擲開關及電壓轉換器件連接到Demo的板載控制器BC。調試的時候，由BC控制Debug接口是接入到板載MCU還是連接至外部的Debug接口，同時外部電路根據軟件作出相應的更改，以達到調試的多樣性，最大限度的發揮Demo板的調試功能。

 2.2  Demo板調試外部MCU的步驟

下面以STK3200 Demo板為例來說明使用SWD接口來調試外部EFM32TG110 MCU調試步驟及配置方法。

 2.2.1  根據原理圖連接SWD接口

如上圖所示，按照圖示把外部MCU的SWD引腳連接至Demo板的Debug接口。其中SWCLK和SWDIO是必須的，SWO是可選的，Debug接口的Reset連接至MCU的Reset。

2.2.2  連接MCU及Debug接口電源

參考2.2.1的圖示，給外部MCU供電，同時把Debug接口的Vtarget和GND連接到外部MCU的VMCU。使用時注意：Vtarget不是一個電源輸出引腳，不能直接供電給外部MCU，而是電壓轉換的一個外部參考電壓。

2.2.3  軟件配置Demo板的Debug模式

1.首先把Demo板通過USB連接至PC機，打開Simplicity Studio，studio檢測到設備以后點擊下圖紅色標示的Kit Manager圖標：

 2.如下圖所示，把Debug Mode由MCU更改為OUT：

2.2.4  選擇Demo板VMCU的供電源

如下圖所示，通過切換開關把電源切換到Debug一端，或者BAT一端，如果由電池供電的話。

然后，用mini USB連接Demo和PC，在Simplicity Studio中點擊檢測連接的設備，就會看到連接的設備信息，如下圖所示：

2.2.5  其他注意事項

如果按照上述步驟還是檢測不到設備的話，按如下方法檢測

1)  請使用萬用表按照上述原理檢查導線的導通性，確保導線、飛線、跳線連接完好。

2)  如果導線連通性沒問題，請使用示波器測量Debug接口上SWCLK和SWDIO的波形，看是否有通信的數據。如果沒有，請按照2.2.3配置，如果有，但是信號很弱，請參考2.2.2配置，如果信號很好，還是不能檢測到設備，請檢查2.2.4的配置過程。

3  參考文獻

(1)  EFM32 Debug and Trace - AN0043

(2)  USER MANUAL - Starter Kit EFM32ZG-STK3200

(3)  EFM32 Zero Gecko STK Schematic-BRD2010A-B00