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集成電路檢測器 ICS 105——ICS 105 GND 組套/ ICS 105 UH 組套

時間：2015-03-13 11:42:58來源：中國傳動網

導語：?集成電路檢測器ICS105同ICR型號的近場微探頭組合使用，可對集成電路（ICS105GND組套）和小型組件（ICS105UH組套）進行高頻近場測量。

集成電路檢測器ICS105同ICR型號的近場微探頭組合使用，可對集成電路（ICS105GND組套）和小型組件（ICS105UH組套）進行高頻近場測量。通過對集成電路的近場分析，能夠在高頻環境下對集成電路的內部過程有準確了解。集成電路的干擾發射問題將通過測量予以分析，找出集成電路中產生干擾發射的部位。

圖1近場微探頭ICRHH150-27是一款帶有水平測量線圈的探頭，用于磁場測量。測量分辨率為50µm，測量范圍為1.5GHz至6GHz。

除了朗格爾電磁兼容技術有限公司的ICR型號近場微探頭之外，還可借助探頭支架SH01將手持式探頭或場源置入到ICS105之中（圖2）。

使用不同的ICR近場微探頭，可在(50x50x50)mm的空間范圍內分別對磁場或電場進行測量，測量結果通過軟件CS-Scanner在電腦上顯示。此外，ICR近場微探頭可通過旋轉軸自動旋轉360°，以確定磁場的確切方向。借助視頻顯微鏡，可方便近場微探頭在測量目標上的精確定位。ICS105檢測器的最小步進值為10μm，可實現極高分辨率的測量（圖1）。

ICR型近場微探頭適用于1.5MHz至6GHz頻率范圍內的測量，可達到的測量分辨率約為50μm。用于磁場測量的近場微探頭可提供兩種不同的基本規格。ICRHV近場微探頭帶有垂直測量線圈，ICRHH近場微探頭帶有水平測量線圈。ICRE近場微探頭的探針頭包括一個水平電極，用于電場測量。

不同類型的近場微探頭配置齊全，確保在完成各類眾多實際測量任務時能夠選取最佳的探頭型號。

使用近場微探頭可以進行下列測量：

-根據標準IEC61967-3進行集成電路表面掃描

-集成電路容量掃描

-針腳掃描

在測量過程中，只在相應測量目標上方移動數個µm，確保精準的近場數據采集。近場微探頭的外殼中內置前置放大器，通過Bias-Tee偏置器供電。