1、中子：不帶電的粒子流。輻射源為核反應堆、加速器或中子發生器，在原子核受到外來粒子的轟擊時產生核反應，從原子核里釋放出來。中子按能量大小分為：快中子、慢中子和熱中子。中子電離密度大，常常引起大的突變。

2、中子射線照相檢測的特點：

（1）中子射線比x射線和r射線具有更強的穿透力，對含氫材料表現為很強的散射性能等特點。

（2）中子通過物質時與原子核相互作用而衰減，且不同的元素有不同的吸收系數。中子不能直接使X射線膠片感光成像，而是通過一種特殊的轉換屏與X射線底片組合使用。

（3）可以用來檢查含氫、硼、鋰的物質與重金屬組合的物體、檢查爆炸裝置、檢查陶瓷中的含水情況、檢查密封在金屬中的固體火箭推進劑，也可以對原子序數相近或同一元素不同同位素進行檢測及檢查核燃料等。

3、中子射線照相技術原理：

中子射線照相的基本透照布置如圖1所示。從中子源發出的中子束，通過準直器照射到被檢工件，檢測器記錄透射的中子束分布圖像。不同物質具有不同的中子衰減系數，因此透射中子束的分布圖像可以形成工件缺陷和雜質等的圖像。

1. 快中子源　2. 減速劑　3. 中子吸收層4. 準直器　5. 中子束　6. 工件　7. 膠片

D ——中子入射孔徑　L ——準直器長度

圖1中子射線照相的基本透照布置圖

4、常用中子檢測方法：

    中子檢測技術目前常用的方法有熱中子法（TNA）：測量射線為中子俘獲反應產生的特征γ射，主要測量元素有核材料，Ｈ，Ｎ，CL，Ｐ、快中子法（FNA）（常用14MeV）：測量射線為中子非彈性散射所激發的次級γ射，主要測量元素有Ｏ，Ｃ，（Ｈ），（Ｎ）、脈沖快熱中子法（PFTNA）：測量射線為在脈沖產生時測量中子非彈γ譜和脈沖間隙測量俘獲γ譜，主要測量元素有核材料，Ｈ，Ｎ，CL，Ｐ，Ｏ，Ｃ、伴隨a粒子成像技術/飛行時間法（API/TOF）：測量射線為利用符合技術測量中子非彈性散射所激發的次級γ射線，主要測量元素有Ｏ，Ｃ，Ｎ，金屬材料。

5、中子探測器XNC8800系列

針對高密度、大尺寸、超厚度零器件的檢測，X-Scan公司最近推出一款中子成像探測器——XNC8804系列線探測器。美國硅谷X-Scan imaging 公司是專注于X射線線陣探測器和芯片的專業供應商，在無損探傷領域擁有豐富的成功經驗。X-Scan的產品集信號探測、信號放大、數字輸出于一體，有多種控制功能可供選擇，可方便地與計算機連接，實現圖像或信號的數字化處理。該產品主要面向核電廠、海關邊防等應用領域。

主要性能指標：

·檢測能量范圍：0.025eV~14MeV；

·閃爍體材料：NE-426；

·主要用于快種子和熱中子成像；

·硼酸聚乙烯防護、異軸成像、光纖面板耦合技術；

·探測長度可選；

·模數轉換：16bits；

·讀取噪聲：80 ADU；

·操作溫度：0到 +40 °C；

·存儲溫度：–10 到 +50 °C；

·操作和存儲濕度：20%到 90 %；

·電源電壓：100 到240 VAC。

圖2中子探測器XNC8800系列實物圖

XNC8800系列探測器型號如下表：

主要應用方向：

·放射性襲擊的應急響應；

·海關和邊防巡邏；

·政府執法部門；

·核電廠、銀行、政府實驗室、醫療設備等部門的安全控制；

·軍隊；消防隊；

·應急響應部門；

·采礦業；核電廠、核實驗室、放射醫學或核廢料安全檢測。

圖3 計算機軟驅中子成像圖（局部）     圖4 繼電器中子成像圖

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