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測量技術新突破，高精度大尺寸測量不再是夢

時間：2015-10-21

來源：西安欣維視覺科技有限公司

導語：對機器視覺幾何尺寸測量來說，其測量尺度正在向兩個極端發展：小尺寸測量和大尺寸測量。小尺寸方向正在進行微米測量和納米測量的研究與應用。

對機器視覺幾何尺寸測量來說，其測量尺度正在向兩個極端發展：小尺寸測量和大尺寸測量。小尺寸方向正在進行微米測量和納米測量的研究與應用。大尺寸測量主要指幾十厘米到米范圍內物體的空間坐標(位置)、尺寸、形狀、運動軌跡等的測量，而且大尺寸測量越來越趨向于高精度測量。大尺寸測量經常使用的儀器有：

　　三坐標                                             經緯儀                                            激光掃描儀

上面的測量儀器雖然都可以解決大尺寸方面的尺寸測量，但是在儀器體積、測量穩定性、精度方面遠遠無法滿足高精度大尺寸測量要求。那我們有沒有什么技術可以讓測量精度達到小尺寸測量，但是同時能夠對大尺寸物件進行尺寸測量呢?答案是肯定的，欣維視覺新開發的圖像拼接技術成功的解決了上述難題，并且成功應用在大尺寸手機外殼尺寸測量上，具體如下：

視覺系統先分別對手機殼進行6次取圖，然后通過欣維視覺開發的圖像拼接技術，把6附圖片拼接成一張整圖，在整圖里面對相關尺寸、位置等進行測量。

此技術可以廣泛引用在電子產品外殼尺寸測量，例如電腦、平板電腦;同時也可應用在大型機械加工件尺寸測量方面，例如汽車零部件里面相關部件位置度測量等。

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